[发明专利]光拾取装置

说明书

技术领域

本发明涉及在进行小型盘(CD)、激光盘(LD)等的重放专用型光盘重放的光学重放装置中，或在进行追记型、可改写型等的光盘中记录重放的光学记录重放装置中使用的光拾取装置。

背景技术

在CD等的光拾取中，必须对间隔为1.6μm的光迹作正确地跟踪。因此，为了作稳定信号检测，要求光迹宽度的十分之一以下的控制，通常作0.1μm以下的误差控制(跟踪伺服)。

在光拾取装置中，该控制通过物镜的左右平行移动进行，必须检测只要在左右的任一方向上有若干移动就行的信号(跟踪错误信号)。

于是，作为光拾取装置的跟踪伺服方式已知的方法为3射束法，或推挽法。

图8是3射束法的说明图。如该图所示，在光盘101上聚焦主光束SP11。在主光束SP11的两侧使用于检测跟踪错误信号的付光束SP12、SP13聚光。

在该方法中，当主光束SP11的聚光沿光迹正确跟踪时，2个付光束SP12和SP13的输出相等。另一方面，当在主光束SP11的聚光中产生跟踪偏离的情况下，SP12、SP13的输出不同。

这里，在3光束法中，用光检测器检测付光束SP12、SP13的光盘光反射强度D11、D12，把其差动信号D11-D12作为跟踪错误信号。

但是，在3光束法中，应成为跟踪信号的付光束SP12、SP13隔开大的距离。因此，在从不记录光盘101的信息的部分往记录信息的部分进行跟踪的情况下，如图8所示，在主光束SP11中，虽然不产生跟踪偏差，但是产生反射光量差。从而，所存在的问题是，在差动信号D11-D12中，由于跟踪偏差以外的反射光量差的影响，产生跟踪偏移。

图9(a)、(b)是用于说明推挽法的图。如该图所示，从激光器111射出的光用物镜112聚光在光盘113上的比特上。聚光的光通过光盘113上的比特衍射反射，再入射到光盘112上。入射到物镜112上的反射光通过射束分离器114，入射到2分割光检测器115上被检测。该所谓2分割光检测器115是这样设定的检测器，光检测面被均等分成2份，如果盘上的光和比特位置正常，则用分割的2个检测面检出的反射光的强度彼此(在左右)相等。

从而，如果光和比特位置正常，则在反射光中，表示左右均等的强度分布。即，如果盘上的光和比特的位置正常，则2分割光检测器115的2个检测面检出彼此(在左右)相等的强度分布的反射光。然而，如果在该位置关系中产生偏移，那么，反射光的左右强度分布为非对称。即如果在盘上的光和比特的位置关系上产生偏移，那么，检出2分割光检测器115的2个检测面的反射光的强度的分布为相互(左右)非对称。这里，在推挽法中，检测在2个检测面中相互感光的反射光强度D11’、D12’，把其差动信号D11’-D12’作为跟踪错误信号。

但是，在推挽法中存在如下问题。推挽法是检测从光盘113中反射光的左右光量的分布差，将其差分信号作为.跟踪错误信号的方法。即，通过检测2分割检测器115的2个检测面检测的反射光的强度分布差，得到跟踪错误信号。然而，在光盘的跟踪中，当物镜112在径向移动的情况下，如图9(a)所示，从光盘113的反射光的光轴偏移，射束中心往往偏移2分割检测器115的检测面中心。而且，在光盘113面倾斜的情况下，如图9(b)所示，由于从光盘113的反射光相对物镜112往回倾斜，所以对于物镜112，往往反射光中心中心偏移。

问题还在于，在象这样的偏移情况下，虽然不产生跟踪偏移，但是，来自2分割光检测器115的差动信号D11’-D12’中产生偏置，不能顺利地进行跟踪。