[发明专利]光学式传感器装置、及其信号处理装置和分支连接器有效
| 申请号: | 02123310.1 | 申请日: | 2002-06-18 |
| 公开(公告)号: | CN1392390A | 公开(公告)日: | 2003-01-22 |
| 发明(设计)人: | 井上佑一;富田公平;井上宏之 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号: | G01D5/32 | 分类号: | G01D5/32 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 马莹,邵亚丽 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光学 传感器 装置 及其 信号 处理 分支 连接器 | ||
1、一种光学式传感器装置,具备:位移传感器型检测部,出射光并根据该出射光的来自检测区域的反射光的受光量来输出一对检测信号;透射光量型检测部,出射光并根据该出射光的来自检测区域的透射光的受光量来输出检测信号;以及信号处理装置,用于处理来自这些检测部的检测信号;其中,
上述信号处理装置具备:
连接器,能够电连接到上述位移传感器型检测部及透射光量型检测部中的任一个上,而且不能同时连接这些检测部;
多个检测信号端子,被包括在上述连接器中,用于中继来自上述位移传感器型检测部的一对检测信号及来自上述透射光量型检测部的检测信号;以及
控制部,取入由上述检测信号端子中继的检测信号,选择性地执行使用来自上述位移传感器型检测部的一对检测信号的第1计测处理方式、和使用来自上述透射光量型检测部的检测信号的第2计测处理方式。
2、一种光学式传感器的信号处理装置,具备:
连接器,具备用于中继检测信号的多个检测信号端子;以及
控制部,取入由上述检测信号端子中继的检测信号,选择性地执行使用从上述检测信号端子中的2个端子输入的2个检测信号的第1计测处理方式、和使用从上述检测信号端子中的1个端子输入的1个检测信号的第2计测处理方式。
3、一种光学式传感器的信号处理装置,具备:
连接器,能够电连接到位移传感器型检测部及透射光量型检测部中的任一个上,而且不能同时连接这些检测部,该位移传感器型检测部出射光并根据该出射光的来自检测区域的反射光的受光量来输出一对检测信号,该透射光量型检测部出射光并根据该出射光的来自检测区域的透射光的受光量来输出检测信号;
多个检测信号端子,被包括在上述连接器中,用于中继来自上述位移传感器型检测部的一对检测信号及来自上述透射光量型检测部的检测信号;以及
控制部,取入由上述检测信号端子中继的检测信号,选择性地执行使用来自上述位移传感器型检测部的一对检测信号的第1计测处理方式、和使用来自上述透射光量型检测部的检测信号的第2计测处理方式。
4、如权利要求2或3所述的光学式传感器的信号处理装置,其中,上述连接器具备用于将表示所连接的检测部的种类的识别数据中继到控制部的端子,上述控制部按照经连接器取入的识别数据的内容来选择执行上述第1、第2计测处理方式中的某一个。
5、如权利要求2或3所述的光学式传感器的信号处理装置,其中,
上述连接器具备:能够与包含登录有表示本装置种类的识别数据的存储器的位移传感器型检测部相连、并且用于将识别数据的读出信号中继到该位移传感器型检测部的存储器的端子;以及用于将从存储器中读出的识别数据中继到控制部的端子;
上述控制部输出上述读出信号后,在识别数据被传输的情况下选择执行上述第1计测处理方式,而在识别数据未被传输的情况下选择执行上述第2计测处理方式。
6、一种光学式传感器用的分支连接器,具备用于分别连接到透射光量型检测部的投光部和受光部上的连接部,该透射光量型检测部出射光并根据该出射光的来自检测区域的透射光的受光量来输出检测信号;并且具备与权利要求2~5中某一个信号处理装置的连接器对应的连接口;配置在上述连接器和上述透射光量型检测部之间来使用。
7、如权利要求6所述的光学式传感器用的分支连接器,其中,
在与上述信号处理装置的连接器对应的连接口上设有一组电源线的中继端子,并且对上述投光部及受光部各设有一组上述电源线的中继线,使从上述信号处理装置中继的电源线分支并连接到投光部侧及受光部侧的各中继线上。
8、如权利要求6所述的光学式传感器用的分支连接器,其中,
在与上述信号处理装置的连接器对应的连接口上设有两组电源线的中继端子,并且对上述投光部及受光部各设有一组上述电源线的中继线,使从上述信号处理装置中继的两组电源线按组分开并连接到投光部侧及受光部侧的各中继线上。
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