[发明专利]光盘装置无效

专利信息
申请号: 02119343.6 申请日: 2002-05-13
公开(公告)号: CN1385840A 公开(公告)日: 2002-12-18
发明(设计)人: 上冈优一;井口睦;坂林贵之 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G11B20/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光盘 装置
【权利要求书】:

1.一种光盘装置,其特征在于:

在记录数据的磁道的至少一方的侧端部上形成了预凹槽的光盘上记录数据、和/或从所述光盘上再现数据;

包括:

在所述光盘的所述磁道上照射光束的光照射元件;

检测来自照射了所述光束的所述磁道的反射光,检测来自所述磁道的一方的侧端部的第一反射光和来自所述磁道的另一方的侧端部的第二反射光的光检测器;

生成与所述第一反射光对应的第一检测信号和与所述第二反射光对应的第二检测信号的差动信号的减法器;

放大由所述减法器输出的所述差动信号,并能使放大率变化的放大器;

从利用所述放大器放大的差动信号来检测所述预凹槽。

2.根据权利要求1所述的光盘装置,其特征在于:

还包括:判断所述放大的差动信号的表示预凹槽的信号成分是否与设置在所述光盘上的所述预凹槽对应的预凹槽检测判断器,

根据所述预凹槽检测判断器的输出来设置所述放大器的放大率。

3.根据权利要求2所述的光盘装置,其特征在于:

还包括:把所述放大的差动信号二值化的二值化电路;

所述预凹槽检测判断器判断从所述二值化电路输出的二值化信号是否与设置在所述光盘上的所述预凹槽对应。

4.根据权利要求3所述的光盘装置,其特征在于:

在固定了所述二值化电路的限幅电平的状态下,根据使所述放大器的放大率变化时的所述预凹槽检测判断器的输出的变化,来设置所述放大器的放大率。

5.根据权利要求2所述的光盘装置,其特征在于:

根据由在所述光盘上未记录数据的磁道部分检测的所述第一和第二反射光所生成的差动信号,来设置所述放大器的放大率。

6.根据权利要求2所述的光盘装置,其特征在于:

使用所述光照射元件,将表示所设置的所述放大率的信息记录在所述光盘上。

7.根据权利要求2所述的光盘装置,其特征在于:

还包括存储表示所设置的所述放大率的信息的存储装置。

8.根据权利要求1所述的光盘装置,其特征在于:

还包括:调整所述第一检测信号和所述第二检测信号的大小的比的平衡调整器;

所述减法器生成调节了所述大小的比的所述第一检测信号和所述第二检测信号的差动信号。

9.根据权利要求8所述的光盘装置,其特征在于:

还包括判断所述差动信号中表示预凹槽的信号成分是否对应于设置在所述光盘上的所述预凹槽的预凹槽检测判断器。

10.根据权利要求9所述的光盘装置,其特征在于:

还包括根据所述预凹槽检测判断器的判断结果,来测定预凹槽检测率的预凹槽检测率测定器;

所述平衡调整器根据所述预凹槽检测率来设置所述大小的比。

11.根据权利要求10所述的光盘装置,其特征在于:

还包括把所述差动信号二值化的二值化电路;

所述预凹槽检测判断器判断从所述二值化电路输出的二值化信号是否与设置在所述光盘上的所述预凹槽对应。

12.根据权利要求11所述的光盘装置,其特征在于:

还包括能使所述二值化电路的限幅电平变化的限幅电平设置电路;

所述限幅电平设置电路根据所述预凹槽检测率,来设置所述限幅电平。

13.根据权利要求12所述的光盘装置,其特征在于:

当使预先设置的所述大小的比的初始值为初始平衡值BO,并且使预先设置的所述限幅电平的初始值为初始限幅值SO时,

通过比较在所述初始平衡值BO的所述预凹槽检测值D(BO)和在与所述初始平衡值BO只有给定的平衡量ΔB的不同的平衡值B1的所述预凹槽检测率D(B1),来估计应该设置的所述大小的比;

并且,通过比较在所述初始限幅值SO的所述预凹槽检测率D(SO)和在与所述初始限幅值SO只有给定的限幅量ΔS的不同的限幅值S1的所述预凹槽检测率D(S1),来估计所述应该设置的所述限幅电平。

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