[发明专利]硅机组均流均压测试方法及其设备无效
| 申请号: | 02115987.4 | 申请日: | 2002-06-14 |
| 公开(公告)号: | CN1391108A | 公开(公告)日: | 2003-01-15 |
| 发明(设计)人: | 胡振民 | 申请(专利权)人: | 胡振民 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 江西省专利事务所 | 代理人: | 李卫东 |
| 地址: | 330013 江*** | 国省代码: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 机组 均流均压 测试 方法 及其 设备 | ||
1、一种硅机组均流均压测试方法,其特征在于:它采用间隙式脉冲供电方式测试硅机组各桥臂的均流均压系数,其测试电源为间隙2秒的工频半波,脉冲电源控制系统是由二个互相独立的均压测试电源和均流测试电源所组成,用按钮开关互锁联接,同时用继电器J1同步切换采样输入信号和自检信号,用继电器J2同步切换均压测试信号Y和均流测试信号L,均流、均压脉冲电源的开关,同时用同步变压器T3、T4送出同步信号给脉冲触发系统CF,经CF调理后再送给数据采样卡A/D,使计算机在得到确认信号开始采样的时间和测试电源输出的时间同步进行。
2、如权利要求书1所述硅机组均压均流测试方法,其特征在于:所述的采样电路是由霍尔传感器G通过隔离模块GL,一路经均压、均流信号切换继电器J2,送入数据采集卡A/D,经计算机PC软件作数据处理形成各种波形图,经计算机产生各种报表HP打印出来。另一路送入DSP经LEDTD驱动用数字表显示支路电流I1-I8,最大均流系数Kmax,均压输出脉冲电压峰值V,最小均流系数Kmin,均流输出脉冲电流峰值I。
3、如权利要求书1所述硅机组均压均流测试方法,其特征在于:所述所讲的自检信号系统是将自检的信号经J1切换送入A/D,同步信号经J3切换送入A/D,J5的触发信号输出选择是由计算机软件经A/D的I/O输出至XH的调理来控制。
4、一种硅机组均流均压测试设备,其特征在于:脉冲电源控制电路DYKZ由两个互相独立的均压测试电源和均流测试电源所组成,并设有互锁联接的按钮开关,脉冲电源控制电路一端分别接变压器T1、T2后与硅机组连接,另一端分别接同步变压器T3、T4并与触发控制电路CF连接,触发控制电路CF输出端与数据采样卡A/D及计算机PC连接,数据采样电路设有霍尔传感器G和隔离模块GL,分别采集硅机组GJZ的电压,电流信号,一路与切换继电器J2、J1数据采集卡A/D连接。另一路与数据采集电路及数据显示驱动器连接;切换继电器J1与自检信号控制电路XH连接,触发控制电路与数据采集卡A/D之间也设有切换继电器J3,与自检信号控制电路XH连接。
5、如权利要求书4所述硅机组均压均流测试设备,其特征在于:所述数据采集电路的数据显示驱动器LEDTD设有显示支路电流表I1-I8,最大最小均流系数Kmax、Kmin数字表,以及均压输出脉冲电压电流峰值表VI。
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