[发明专利]全反射单发二阶自相关测量仪无效

专利信息
申请号: 02112076.5 申请日: 2002-06-14
公开(公告)号: CN1385682A 公开(公告)日: 2002-12-18
发明(设计)人: 王兴涛;李儒新;印定军 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 上海开祺专利代理有限公司 代理人: 李兰英
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 全反射 单发 相关 测量仪
【说明书】:

技术领域:

发明是一种全反射单发二阶自相关测量仪,能够精确测量飞秒激光脉冲的时间宽度。

背景技术:

在过去三十多年间,超短激光脉冲的产生和应用取得了极大的发展,脉冲的时间宽度已缩短至飞秒量级,测量这样短的脉冲时间宽度,通常使用二阶单次自相关测量仪,参见在先技术[1]F.Salin,P.Georges,andA.Brun,”Single-shot measurement of a 52-fs pulse”,Applied Optics,Vol 26,No.21,4528~4531(1987)。这种相关测量仪的结构如图1所示,其中,1为待测光源;2为第一小孔光阑,用于截取一部分光束;3为半透半反镜,将一束光分为两束;5,6为两个直角棱镜,7为一维调整架,5,6,7组成一个角反射器,用于调节其中一束光的延迟时间;4,12,13,14,15都为全反射镜,改变光的方向;8为倍频晶体(BBO或KDP晶体);9为第二小孔光阑,用于遮挡基频光,选取倍频光;10为一维CCD的探测器,用于接收倍频信号;11为示波器。

实际工作时,从光源1出来的光束经过第一小孔光阑2后,被半透半反镜3分成两束,适当安排反射镜4、12、13、14、15以及角反射器(5,6,7)的位置和角度,使两束光同时到达倍频晶体8,并且符合位相匹配条件。角反射器(5,6,7)用于精细的调节光程。两束光经过倍频晶体8后,产生倍频光束,倍频光束进入探测器10,探测器10则把光强横向分布转换为电流输入示波器11,由示波器11即可测得信号时间宽度并进行定标,从而得到二阶相关函数的宽度。

定标的方法是:前后移动一维调整架7,使两束光有微小的光程差,则倍频光束的峰值位置会发生变化,示波器11上会看到波形的最大值发生移动。设示波器11上的波形宽度为τ,角反射器移动的距离为Δx,在示波器11上信号最大值移动了Δt,则待测脉冲的宽度为 T = τ α · ( 2 Δx cΔt ) ]]>,α为脉冲形状因子,对于双曲正割脉冲,α=1.55;对于高斯脉冲,α=1.44。

上述结构的自相关测量仪的主要缺点是:

1.分束镜2作为透射元件总有一定的厚度,光束穿过时会引起色散,而超短脉冲对色散比较敏感,其时间宽度会因为色散而变大,从而引起测量结果的误差。

2.为使两束光同时到达倍频晶体,所需反射镜较多,结构比较复杂。

发明内容:

为克服上述自相关测量仪的缺点,本发明提供一种全反射式单发二阶自相关测量仪。本发明的全反射单发二阶自相关测量仪,主要包括第一小孔光阑2,与第一小孔光阑同中心轴线OO'O"O的置有第二小孔光阑9,第一小孔光阑2与第二小孔光阑9之间同中心轴线OO'O"O的置有倍频晶体8,在第二小孔光阑9的出射端置有输出连接到示波器11上的探测器10。在第一小孔光阑2与倍频晶体8之间,置有顶点O'对着第一小孔光阑2,底边置放在调整架7上的分光棱镜16。分光棱镜16的顶角为90°,两直角面为直角反射面。分光棱镜16的顶点O'在第一小孔光阑2与第二小孔光阑9的中心轴线OO'O"O上。有两反射面分别与分光棱镜16两直角反射面相对镜像置放在长调整架17上的第一反射镜4第二反射镜12。待测光源1置放在第一小孔光阑2的入射端。并待测光束的中心光轴与第一小孔光阑2与第二小孔光阑9的中心轴线OO'O"O重合。如图2所示。

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