[发明专利]图象感测设备、遮蔽校正方法、程序以及存储介质无效
| 申请号: | 02102028.0 | 申请日: | 2002-01-17 |
| 公开(公告)号: | CN1366423A | 公开(公告)日: | 2002-08-28 |
| 发明(设计)人: | 白川雄资 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | H04N5/235 | 分类号: | H04N5/235;H04N5/232 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李德山 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图象 设备 遮蔽 校正 方法 程序 以及 存储 介质 | ||
1.一种包括图象感测元件并且可以交换透镜的图象感测设备,包括:
存储装置,用于存储与图象感测元件平面上的二维矩阵象素分别对应的遮蔽校正系数;和
校正装置,用于通过从存储在所述存储装置的遮蔽校正系数中提取出与对应象素关联的遮蔽校正系数,对从图象感测元件的各象素读出的象素数据进行校正计算,
其中所述存储装置存储遮蔽校正系数同时将遮蔽校正系数分成沿图象感测元件平面上两个正交方向的分量,并且
所述校正装置根据所述两个方向的对应象素地址从存储在所述存储装置的遮蔽校正系数中提取出两个遮蔽校正系数,并且将从对应象素读出的象素数据依次乘以这两个所提取的遮蔽校正系数,以校正象素数据。
2.根据权利要求1所述的设备,进一步包括:
提取装置,用于提取存储在透镜中的出射光瞳位置信息;和
计算装置,用于根据由所述提取装置提取的出射光瞳位置信息计算遮蔽校正系数,并且将遮蔽校正系数发送至所述存储装置。
3.根据权利要求2所述的设备,其中所述计算装置根据由所述提取装置提取的出射光瞳位置信息和对应象素的图象高度计算遮蔽校正系数。
4.根据权利要求3所述的设备,进一步包括:
校正装置,用于根据透镜的变焦位置、聚焦位置、图象高度和孔径值的至少一个对由所述提取装置提取的出射光瞳位置信息进行校正,并且将校正的出射光瞳位置信息发送至所述计算装置。
5.根据权利要求3所述的设备,其中出射光瞳位置信息是表示透镜与图象感测元件在光轴上距离的信息。
6.根据权利要求3所述的设备,其中图象高度是在图象感测元件平面上关注象素的位置与光轴上点之间的距离。
7.一种包括图象感测元件并且可以交换透镜的图象感测设备,包括:
存储装置,用于存储与图象感测元件的象素分别对应的遮蔽校正系数;和
校正装置,用于通过从存储在所述存储装置的遮蔽校正系数中提取出与对应象素关联的遮蔽校正系数,对从图象感测元件的各象素读出的象素数据进行校正计算,
其中所述校正装置根据存储在所述存储装置中的遮蔽校正系数,对受到不透射特定波长范围并插入在透镜与图象感测元件之间的滤色器影响的象素以及不受该滤色器影响的象素独立地进行校正。
8.根据权利要求7所述的设备,进一步包括:
提取装置,用于提取存储在透镜中的出射光瞳位置信息;和
计算装置,用于根据由所述提取装置提取的出射光瞳位置信息计算遮蔽校正系数,并且将遮蔽校正系数发送至所述存储装置。
9.根据权利要求8所述的设备,其中所述计算装置根据由所述提取装置提取的出射光瞳位置信息和对应象素的图象高度计算遮蔽校正系数。
10.根据权利要求9所述的设备,进一步包括:
校正装置,用于根据透镜的变焦位置、聚焦位置、图象高度和孔径值的至少一个对由所述提取装置提取的出射光瞳位置信息进行校正,并且将校正的出射光瞳位置信息发送至所述计算装置
11.根据权利要求9所述的设备,其中出射光瞳位置信息是表示透镜与图象感测元件在光轴上距离的信息。
12.根据权利要求9所述的设备,其中图象高度是在图象感测元件平面上关注象素的位置与光轴上点之间的距离。
13.一种应用于包括图象感测元件并且可以交换透镜的图象感测设备的遮蔽校正方法,包括:
存储步骤,将与图象感测元件平面上的二维矩阵象素分别对应的遮蔽校正系数存储在一个存储装置中;和
校正步骤,用于通过从存储在所述存储装置的遮蔽校正系数中提取出与对应象素关联的遮蔽校正系数,对从图象感测元件的各象素读出的象素数据进行校正计算,
其中所述存储步骤包括将遮蔽校正系数存储在所述存储装置中同时将遮蔽校正系数分成沿图象感测元件平面上两个正交方向分量的步骤,并且
所述校正步骤包括根据所述两个方向的对应象素地址从存储在所述存储装置的遮蔽校正系数中提取出两个遮蔽校正系数,并且将从对应象素读出的象素数据依次乘以这两个所提取的遮蔽校正系数以校正象素数据的步骤。
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