[发明专利]简化的质量指示位测试过程无效
| 申请号： | 01817295.4 | 申请日： | 2001-10-06 |
| 公开（公告）号： | CN1471767A | 公开（公告）日： | 2004-01-28 |
| 发明（设计）人： | 陈道;V·R·布特萨姆优;L·爱丁 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 张政权 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 简化 质量 指示 测试 过程 | ||
【说明书】：
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