[发明专利]铈系研磨材料及铈系研磨材料的评估方法无效
| 申请号: | 01804918.4 | 申请日: | 2001-12-12 |
| 公开(公告)号: | CN1400995A | 公开(公告)日: | 2003-03-05 |
| 发明(设计)人: | 山崎秀彦;内野义嗣;高桥和明 | 申请(专利权)人: | 三井金属鉱业株式会社 |
| 主分类号: | C09K3/14 | 分类号: | C09K3/14;C01F17/00;B24B37/00;G01N23/20;G01N33/40 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 胡烨 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 研磨 材料 评估 方法 | ||
1.铈系研磨材料,所述研磨材料中含有40重量%以上的氧化铈(与全部稀土类氧化物的比例),其特征在于,对应于铈系研磨材料的重量,含有以原子重量换算的0.5~10重量%的氟,同时还含有由粉末X射线衍射法测得的晶格常数在0.544~0.560nm的范围内的结晶构成的研磨粒子。
2.铈系研磨材料的评估方法,其特征在于,取作为评估对象的铈系研磨材料,用粉末X射线衍射法对所取铈系研磨材料进行分析,从下述各区域出现的最大峰中求出至少1个最大峰的衍射角(θ),再由此计算出构成研磨粒子的结晶的晶格常数,
(a)2θ=A1°~A2°
(b)2θ=B°±3.0°
(c)2θ=C°±3.0°
(d)2θ=D°±3.0°
若设定粉末X射线衍射法使用的X射线波长为λ(nm),则上式中的A1、A2、B、C、D由下式表示:
A1=360÷π×sin-1(1.127174×λ)
A2=360÷π×sin-1(3.245569×λ)
B=360÷π×sin-1(1.843583×λ)
C=360÷π×sin-1(2.588335×λ)
D=360÷π×sin-1(3.047405×λ)
3.如权利要求2所述的铈系研磨材料的评估方法,其特征还在于,进行粉末X射线衍射分析时所用的靶为铜靶,以CuKα1射线产生的X衍射射线为基础求出衍射角,再计算出晶格常数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三井金属鉱业株式会社,未经三井金属鉱业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/01804918.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





