[发明专利]计测仪检查用计测校准器的设定装置无效
申请号: | 01800029.0 | 申请日: | 2001-01-19 |
公开(公告)号: | CN1358267A | 公开(公告)日: | 2002-07-10 |
发明(设计)人: | 浅沼进 | 申请(专利权)人: | 株式会社浅沼技研 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00 |
代理公司: | 北京银龙专利代理有限公司 | 代理人: | 吴邦基 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 计测仪 检查 用计 校准 设定 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种机械部件尺寸计测中使用的3元计测仪的在计测台上进行精度检查或动作检查用的计测校准器设定装置。
背景技术
以往,在例如汽车用的发动机及变速器的箱体之类的机械部件的尺寸计测中,广泛地采用了具有对于安装在计测台上的被计测物用计测头前端接触来进行计测这种构造的计测仪。
作为这种计测仪的一例,如特开平2-306101号公报中所公开的,其具有如图13所示的将计测仪A1从计测台A2的两侧沿轨道A3在X方向移动的门柱状移动体A4,在前述移动体A4上安装有可在与X方向成直角的Y方向上移动的移动体A5。
在移动体A5上,设置有在与形成X方向和Y方向的平面成直角的Z方向上可上下移动的主轴部A5,在此主轴部A5的前端上安装着固定有球的计测头(记录头)A6,在载置于计测台A2上的被测物W的上面,与计测头A6的球接触的同时在X、Y方向滑动,检测出Z方向的尺寸。
在前述计测仪A1中,由于一旦计测头A6前端的球磨耗就不能检测出正确的尺寸,所以在计测台A2上安装有作为基准件的V形块规,与前述球接触,检测出V形块规各部的尺寸,检查出由于球的磨耗所生产的误差。
在前述的特开平2-306101号公报所记载的以往的计测仪中,由于计测仪自体的精度检查是在通常计测作业中在计测台上以手工作业进行设定基准块规,在设定上需要劳力和时间,且存在为了精度检查,长时间中断通常的被计测物的计测作业使作业效率降低的问题。
此外,为了节省每次精度检查设定基准件的劳动,可在平时将基准件载于计测台上特定的位置上,只进行精度检查时将计测头移动到基准件的位置进行计测,但由于平时基准件占据了计测台上的一部份空间,存在限制计测台上能够设定被测物场所的问题。
另一方面,在特开平11-44527号公报中,公开了利用把被测物送入尺寸计测仪的计测位置上的输送带,将作为尺寸精度基准的块状的计测校准器移动至前述计测位置上,进行计测校准器的尺寸计测的技术,按照这种尺寸计测仪,可使计测校准器自动地设定于计测位置,迅速地进行精度检查。
但是,这种尺寸计测仪由于设置了用于移送搭载于平台上的被计测物或计测校准器的输送带,为了设置尺寸计测机,需要收纳空调或温度管理系统齐备的较大空间,存在设备成本高的问题。
为此,本发明的目的是解决前述以往技术的问题,提供一种通过在计测仪的计测台上对计测校准器进行人工设定,同时常设的计测仪在较小的设置空间可容易地设置的计测仪检查用计测校准器设定装置。
发明内容
为了实现上述目的,本发明的计测仪检查用计测校准器的设定装置具有在计测仪的计测台端部附近的退避位置与计测台上的计测位置之间移动计测仪检查用计测校准器的移动体。
在本发明的计测仪检查用计测校准器的设定装置中,最好是移动体由在设定于计测台端部上相邻配置的收纳壳体内的退避位置和计测台上的计测位置之间移动的台车构成,在前述台车上设置有升降机构,该升降机构具有将计测校准器举起保持于上升位置、再通过下降动作降落在计测台上这样作升降驱动的升降构架。
在这种场合,最好通过将在中间位置上相互自由回转地轴连接着的成对连杆、将多组其邻接的连杆端部彼此可自由回转地连接而构成的伸缩机构,连接收纳壳体与台车,以限制台车蛇行,在位于所述伸缩机构的收纳壳体一侧的连杆对各自的端部,方向可变地轴连接着形成有相互反向的阴螺纹的成对螺母,这些螺母被支持于收纳壳体内,与在正反两个方向上回转驱动的驱动螺纹轴外周上相互反向形成的一对螺杆结合,通过前述驱动螺纹轴的回转来伸缩伸缩机构,使台车在收纳壳体内的退避位置与计测台上的计测位置之间移动。
此外,最好在台车上搭载有至少驱动走行车轮中的一个、使所述台车在收纳壳体的退避位置与计测台上的计测位置之间自走的驱动源的同时,通过在台车走行方向上自由伸缩的导向部件连接收纳壳体与台车,限制台车蛇行。
此外,在本发明的计测仪检查用计测校准器的设定装置中,最好在计测校准器下部设置有第1定位装置,所述第1定位装置从上方与自由装卸地固定于计测台的计测位置上的第2定位装置结合,进行计测校准器相对于计测台的定位。
本发明的计测仪检查用计测校准器的设定装置(以下简称为设定装置)具有设定被测物的计测台(平台、底座),可附设于搭载在前述计测台上计测被计测物尺寸等的计测仪上使用。
作为这种计测仪,是例如具有相对于计测台的可在3元方向上移动的计测头,计测头的前端接触计测台上被计测物的各部分,以计测尺寸的3元计测仪。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社浅沼技研,未经株式会社浅沼技研许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/01800029.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:蜂窝构件及其制造方法
- 下一篇:用前胡醇及其相关的衍生物作为止痛剂