[实用新型]电感耦合等离子体质谱接口装置无效
| 申请号: | 01279705.7 | 申请日: | 2001-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN2510862Y | 公开(公告)日: | 2002-09-11 |
| 发明(设计)人: | 刘湘生 | 申请(专利权)人: | 北京有色金属研究总院 |
| 主分类号: | G01N23/22 | 分类号: | G01N23/22;H01J49/26 |
| 代理公司: | 北京北新智诚专利代理有限公司 | 代理人: | 朱丽华 |
| 地址: | 100088*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电感 耦合 等离子 体质 接口 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种电感耦合等离子体质谱接口装置。
背景技术
电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)技术,经过十多年的发展,仪器不断更新换代,目前已成为各种物料中痕量元素分析的主要手段之一。由于该技术分析灵敏度高,能作多元素快速分析,检出限低,动态范围宽,分析精密度好,能作同位素比测定,识谱简便等优点,已在国民经济各部门、大专院校、科研单位得到了广泛的应用。在国外随着应用范围的扩大,已逐渐发展为一种常规的分析测试技术。
而电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)接口是ICP-MS技术的关键部件,是电感耦合等离子体与质谱仪间连结的纽带和桥梁,解决其间离子传输的问题。原进口ICP-MS系统装置的接口使用的采样锥和截取锥采用孔径均达1mm左右,采样锥锥孔被准直插放在等离子体炬焰中心通道的轴心上,距炬端仅几mm,由于锥孔内外的压力差,等离子体流过一连续区并在锥孔后的空间形成超音喷射,在采样锥后的一定距离处,插入截取锥,截取锥锥孔亦准直插放在等离子体炬焰中心通道的轴心上,且由于国外进口的接口装置价格都很高,一般都很难为每个专题研究配备各自的接口装置。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种电感耦合等离子体质谱接口装置,其能够解决大气压、高温等离子体与真空、常温质谱仪这样两个差异很大的环境中的离子传输问题,离子的传输效率高,在离子传输过程中不会带来使真实信号失真的不良反应。
为实现上述目的,本实用新型采取以下设计方案:这种电感耦合等离子体质谱接口装置,由采样锥和截取锥构成,采样锥与截取锥轴向同心,采样锥和截取锥锥孔端厚度为0.2mm~0.5mm,由耐蚀、耐高温的金属材料制成。
本实用新型的优点是:采用自制接口装置,可以取代原进口接口装置,使用效果良好,由于采用了国产件,大幅度的降低了ICP-MS仪器的运转成本,为大型科学仪器的社会化服务创造了条件。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图
图2为本实用新型应用实施例示意图
具体实施方式
如图1所示,本实用新型ICP-MS电感耦合等离子体质谱接口装置,由采样锥1和截取锥2构成,采样锥与截取锥轴向同心,采样锥和截取锥101、201锥孔端厚度为0.2mm~0.5mm.。当常规工作时,采样锥和截取锥孔径采用0.5mm;当需高灵敏度工作时,采样锥和截取锥孔径采用0.2mm.。
所述的采样锥和截取锥由耐蚀、耐高温的金属材料制成。如采用纯镍或不锈钢材料制成。
采样锥和截取锥之间的最佳位置设计为位于马赫终止带起始位置的2/3处,在此处可采集到原始状态的离子。
由于两锥的几何形状、相互位置会直接影响整个系统装置的灵敏度和长期稳定性(信号漂移),而且也影响背景计数和各类离子的产率,同时影响谱干扰和非谱干扰的程度,故采样锥和截取锥孔径及相互间位置、制作材料采用上述设计,可保证达到较好的各项性能指标,又成本低廉。
图2所示的是应用实施例示意图,该接口装置为电感耦合等离子进样系统3与质谱系统4的传输接口,采样锥和截取锥接口轴心与进样系统3的等离子体矩管轴心准直,它们的光洁度、尺寸公差严格要求,两锥的距离、同心度、垂直度亦应严格保证。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京有色金属研究总院,未经北京有色金属研究总院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/01279705.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有加密功能的数码音乐播放机
- 下一篇:实现硬盘多重逻辑化电路结构





