[实用新型]连接器实插机构无效
| 申请号: | 01278792.2 | 申请日: | 2001-12-19 | 
| 公开(公告)号: | CN2511014Y | 公开(公告)日: | 2002-09-11 | 
| 发明(设计)人: | 周俊弘 | 申请(专利权)人: | 华硕电脑股份有限公司 | 
| 主分类号: | H01R12/24 | 分类号: | H01R12/24;G01R1/06 | 
| 代理公司: | 隆天国际专利商标代理有限公司 | 代理人: | 潘培坤,陈红 | 
| 地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 台湾;71 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 连接器 机构 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种连接器实插机构,特别是涉及一种用于测试印刷电路板的连接器实插机构。
背景技术
随着高科技产业的快速发展、技术的日新月异,许多电子产品推陈出新,其中又以计算机为现代人在工作或娱乐上不可或缺的物品。目前,笔记本型计算机比台式计算机轻薄短小,不但不占空间,也可随身携带,因此更深受大众的青睐,特别是商务人士,更可随时随地利用笔记本型计算机处理公事,例如做简报和收发电子邮件,使得商务往来上更有效率。
为了使消费大众能购买到品质良好的电子产品如笔记本型计算机,在产品出厂前,需经过研发工程师一再的测试产品内部的电子组件,如电路板上的线路,以确定产品性能稳定,才可出厂。
请参照图1,其是一种传统测试印刷电路板的方法的示意图。其中,以一测试仪器106与待测试的印刷电路板(printed circuit board,PCB)102连接。传统的测试方法是以一两端有金手指的软排线104连接于印刷电路板102上的连接器103,亦即将软排线104的一端与印刷电路板102上的连接器103连接,而软排线104的另一端则连接到一测试仪器106上,以进行电子组件测试。
由于测试期间,软排线104需要一再的插入和拔离连接器103,使软排线104上的金手指磨损,且软性材料的软排线104前端容易变形,使插拔更加不易,而造成金手指的严重磨损,使软排线104的使用寿命简短。一般来说,软排线104插拔动作大约十多次,其金手指表面即有明显磨损,需要更换新的软排线104,因此提高了软排线104的购置成本。
此外,将软排线104的一端插入和拔离连接器103时,由于软排线104为软性材料,研发工程师在拿取和插拔时不甚容易,不但间接影响到软排线104的操作定位,也增加了组装软排线104与连接器103的时间。因此,如何开发出好拿取、且金手指较不易受磨损的机构,使测试过程中的成本降低,遂成为研发上的一项重要课题。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种连接器实插机构,利用电路板实插方式,以降低组装软排线的时间及减少软排线的购置成本,进而降低测试过程中的成本。本实用新型以一硬质电路板连接软排线与待测电路板之间,而测试当中仅拔取该硬质电路板,而不需拔取该软排线。
本实用新型的上述目的是这样实现的:一种连接器实插机构,用于与一印刷电路板和一测试仪器电性连接,所述印刷电路板上有一连接器,其中所述连接器实插机构包括:
一实插电路板,所述实插电路板的两端各有一金手指,并且两端的所述金手指通过多条线路相连接;
一软排线连接器;以及
一软排线,所述软排线与所述实插电路板通过所述软排线连接器电性连接;
所述实插电路板的一端与所述印刷电路板上的连接器连接,所述软排线的一端则与所述测试仪器连接。
本实用新型所述的连接器实插机构,其中所述实插电路板为硬式材质的实插电路板。
本实用新型所述的连接器实插机构,其中所述实插电路板以可插入/拔出所述连接器的方式连接于所述印刷电路板。
根据本实用新型所述的连接器实插机构,用于与一待测试的印刷电路板和一测试仪器电性连接,印刷电路板上有一连接器,连接器实插机构包括一实插电路板和一软排线。其中,实插电路板上包括多条条状线路,且实插电路板两端各有一金手指,并与软排线通过一软排线连接器电性连接。其中,金手指更镀上较厚的金,以提高耐磨度。进行测试时,将实插电路板的一端与印刷电路板的连接器连接,软排线则与测试仪器连接。本实用新型的连接器实插机构,其硬式材质的实插电路板,不但容易拿取和进行定位,缩短了与连接器组装的时间;另外,实插电路板上的金手指镀上厚度较厚的金,可增加金手指的耐磨度,进而减少软排线的购置成本。
为让本实用新型上述目的、特征、和优点能更明显易懂,现结合附图详细说明本实用新型的一较佳实施例。
附图说明
图1是一种传统测试方法的示意图;
图2是本实用新型一较佳实施例的实插电路板的示意图;
图3是图2的实插电路板连接软排线的示意图。
具体实施方式
本实用新型的连接器实插机构,是在原有的软排线前端加上一硬式材质的电路板(称为实插电路板),并利用此实插电路板实插于待测试的印刷电路板的连接器上,软排线则连接至一测试仪器,以进行测试。
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