[实用新型]中间包连续测温装置

说明书

本实用新型涉及一种连铸中间包的测温装置，特别是一种对连铸中间包进行连续测温的装置。

目前国内外冶金连铸企业所用的中间包连续测温装置，主要有间接式测温装置和辐射测温装置。间接式测温装置的主要结构是在金属陶瓷套管内安装热电偶，用热电偶测温，测温时须将金属陶瓷套管和热电偶插入高温熔体中，其不足是金属陶瓷套管和热电偶烧损、腐蚀严重、寿命较短、使用成本高，其次是属于间接式测温，温度变化过程中，热量传导需要一定时间，热电偶对温度响应速度慢，数据滞后。辐射测温装置的结构是用黑体保护套管，透镜及光纤组成接触式辐射测温传感器，其测温过程与上述的热电偶测温过程相同，其不足是，黑体保护套管在高温与炉渣的侵蚀作用下，寿命较短，且光学高温计操作精度要求高，容易产生测量误差。

本实用新型的目的就是为了克服现有连铸过程中间包连续测温装置存在的不足，提供一种使用寿命长、成本低、抗电磁干扰能力强、测温灵敏度高、测温准确的中间包连续测温装置。

为实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种中间包连续测温装置，主要由中间包塞棒连接件，测温传感器座和测温传感器组成，其特征在于：所述的测温传感器包括传感器壳体和光信号接收传输器，所述的光信号接收传输器包括传导光纤、传导光纤保护管、石英滤波片和硅光电池，测温传感器安装在测温传感器座上，中间包塞棒连接件的一端安装在连铸中间包塞棒上，另一端连接测温传感器座，在中间包塞棒连接件和测温传感器座中与中间包塞棒内孔对应处开有传导光纤导孔，在传感器壳体内也设有传导光纤导孔，传感器壳体内的下方安装硅光电池，硅光电池下方表面固定连接石英滤波片，传导光纤套束在传导光纤保护管内，传导光纤及其保护管穿过中间包塞棒内孔和所述的传导光纤导孔，其一端与安装在传感器壳体内的石英滤波片相接触，另一端延伸至中间包塞棒内孔中。根据需要可以在传感器壳体内、传导光纤导孔和中间包塞棒内孔中安装和穿过单路或多路光信号接收传输器。所述的中间包塞棒连接件、测温传感器座和传感器壳体的形状与中间包塞棒的形状相适配，可以是圆柱形或其它形状。在测温传感器端口设有与信号处理计算机相连接的接口。

由于采用了上述方案，该实用新型提供的中间包连续测温装置在测温过程中无需传感器及其保护体直接与高温熔体接触，有效地提高了测温装置的使用寿命而且由于采用传导光纤、硅光电池和石英滤波片等光纤比色技术及计算机数据采集、信号处理技术，使测温准确、灵敏、直观、易于操作。

图1为中间包连续测温装置的结构示意图。

下面结合附图对本实用新型做进一步的描述：

一种中间包连续测温装置，主要由中间包塞棒连接件5、测温传感器座6和测温传感器组成，测温传感器包括传感器壳体7和光信号接收传输器，光信号接收传输器包括传导光纤1、传导光纤保护管2、石英滤波片3和硅光电池4，测温传感器安装在测温传感器座6上，中间包塞棒连接件5一端安装在连铸中间包塞棒8上，另一端用螺纹连接的方式与圆柱形测温传感器座6连接，在中间包塞棒连接件5和测温传感器座6中与中间包塞棒内孔9对应处开有传导光纤导孔10，在传感器壳体7内也设有传导光纤导孔，传感器壳体7内的下方安装硅光电池4，硅光电池4下方表面固定连接石英滤波片3，传导光纤1套束在传导光纤保护管2内，传导光纤1及其保护管2穿过中间包塞棒内孔9和传导光纤导孔10，传导光纤1的一端与安装在传感器壳体7内的石英滤波片3相接触，另一端延伸至中间包塞棒内孔9中。在传感器壳体7内、传导光纤导孔10和中间包塞棒内孔9中，安装和穿过了两路光信号传输器，在测温传感器端口设有与信号处理计算机相连接的接口11。中间包塞棒连接件5、测温传感器座6和传感器壳体7的形状以圆柱形较好，也可以是其它适合的形状。中间包连续测温装置在该实用新型的设计思路和设计结构基础上，还可以有多种与本实用新型实质性特点相同的变形结构，但均属于本实用新型所述的中间包连续测温装置的保护范围。