[实用新型]一种红外型泄漏电流测试装置无效
| 申请号: | 01237646.9 | 申请日: | 2001-04-28 |
| 公开(公告)号: | CN2490590Y | 公开(公告)日: | 2002-05-08 |
| 发明(设计)人: | 钱晶;蔡冲宇;李鸣 | 申请(专利权)人: | 福建省电力试验研究院 |
| 主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
| 代理公司: | 福州展晖专利事务所 | 代理人: | 赵新飞,张炜星 |
| 地址: | 350007 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 外型 泄漏 电流 测试 装置 | ||
1、一种红外型泄漏电流测试装置,是由主机和从机组成,从机接在被试品的高压侧,主机包括微处理器(CPU)、显示器(W)、功能键(G),从机包括保护电路(P)、取样单元(V)、程控放大器(H)、模数变换器(F)、微处理器(CPU’),其特征在于,主机具有一个与微处理器(CPU)相联接的红外接收发射器(SH),从机具有一个与微处理器(CPU’)相联接的红外发射接收器(HS),其中,
主机红外接收管(IC7),经整形电路(X)与微处理器(CPU)的接收口(RXD)相连接,微处理器(CPU)的发射口(TXD),经红外调制电路(T)与红外发射管(D1-D4)相连接;
从机微处理器(CPU’)的发射口(TX),经调制电路(T’)与红外发射管(D1’-D4’)相连接,红外接收管(IC11),经整形电路(X’)与微处理器(CPU’)的接收口(RX)相连接。
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