[实用新型]立体测量装置无效

专利信息
申请号: 01233442.1 申请日: 2001-08-17
公开(公告)号: CN2507609Y 公开(公告)日: 2002-08-28
发明(设计)人: 余振成 申请(专利权)人: 优升精机工业有限公司
主分类号: B23Q17/22 分类号: B23Q17/22;B23Q17/24
代理公司: 北京集佳专利商标事务所 代理人: 王学强
地址: 台湾省高雄*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 立体 测量 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型为一种立体测量装置,尤其指一种操作方便、测量精确的测量装置。

背景技术

一般船舶所使用的螺旋桨需经铸造成型、CNC加工、手工加工等程序,使其获得精确的尺寸后,经相关单位查验螺旋桨尺寸是否符合规定,上述螺旋桨需对其三维尺寸(即立体物品尺寸)进行测量,除了螺旋桨之外,工业上也有诸多对立体物品尺寸测量的需求。请参阅图1,一般对于三维尺寸的测量主要由测量机完成,该测量机由一水平滑座10、垂直滑座20及前后滑座30组合构成;其中,该垂直滑座20配置在水平滑座10的水平滑轨11上,使垂直滑座20可在水平滑座10上左右移动,垂直滑座20上设有垂直滑轨21、坐标指示表22及制动旋钮23;该前后滑座30配置在垂直滑座20的垂直滑轨21上,使前后滑座30可在垂直滑座20上下移动,该前后滑座30上设有前后滑轨31、坐标指示表32及制动旋钮33,前后滑轨31前端又设有探针34;由上述测量机的构造,可将待测量物(如螺旋桨)固定在基座40上,利用水平滑座10、垂直滑座20及前后滑座30的移动,使探针34点触于待测量物表面的若干触点,进而获得待测量物的立体形状的各触点坐标数据,还可由电脑将该坐标数据换算而得待测量物的立体尺寸。该测量机虽可提供测量立体物品的尺寸的作用,但在实际使用后发现,该测量机必须由手动方式逐一调整水平滑座10、垂直滑座20或前后滑座30的位置,使探针34移动至应到的触点,进而以人工记录坐标尺寸,该水平滑座10、垂直滑座20或前后滑座30调整的过程中,又须不断旋松及旋紧制动旋钮23、33,因此,该测量机整体操作过程极为繁琐不便,且测得的坐标数据误差较大。

为解决上述测量机的缺点,还有另一种测量装置被设计产生,该测量装置执行测量工作时,需先针对待测量物设计程序,待测量物被固定在机体后,再由电脑程序使探针作前、后、左、右、上、下的移动,令探针获得的坐标数据后经电脑运算而得所需尺寸;然而,上述测量装置的造价极高、操作也极为复杂繁琐,且对于不同的待测量物又需另给予不同的程序设定,造成成本的提高及使用上的不便。

发明内容

本实用新型的目的即在于改善上述测量机具有的缺点,经多年专业设计经验,首创一种方便操作、测量精确的立体测量装置。

本实用新型为一种立体测量装置,主要包含有机台、垂直架板及水平架板;其中:机台,其在一端设有一旋转卡盘,该旋转卡盘下方配置一检出器,该检出器可测得旋转卡盘转动的角度,并将该角度以信号输出;垂直架板,其固定在机台的一端,而在垂直架板上边设有若干线性轴承;水平架板,其在后侧面固定有滑轨,该滑轨穿入垂直架板的若干线性轴承中,使水平架板可在垂直架板上端移动,水平架板一端设有一滑块,该滑块可供一滑条嵌入,使滑条在滑块上作上下移动,滑条前端设有一探针,水平架板前侧面设有一水平光学尺,而滑条旁侧则设有一垂直光学尺,水平光学尺可检测水平架板前后移动的尺寸距离,并将该尺寸距离以信号输出,而垂直光学尺则可检测滑条(即探针)上下移动的尺寸距离,并将该尺寸距离以信号输出;因此,探针所在的触点均可以坐标数据输出,进而获得待测量物立体形状的各触点坐标数据,还可由电脑将该坐标数据换算而得待测量物的立体尺寸。

附图说明

图1:公知测量机的立体构造图。

图2:本实用新型实施例的立体构造图。

图3:本实用新型实施例的平面侧视构造图。

图4:本实用新型实施例的平面前视构造图。

图5:本实用新型的使用示意图。

附图标记说明:

10:水平滑座         11:水平滑轨

20:垂直滑座         21:垂直滑轨

22:坐标指示表       23:制动旋钮

30:前后滑座         31:前后滑轨

32:坐标指示表       33:制动旋钮

34:探针             40:基座

50:机台             51:旋转卡盘

52:检出器           60:垂直架板

61:线性轴承         70:水平架板

71:滑轨             72:滑块

73:立筒             74:滑轮

75:滑条             76:探针

77:线绳             78:配重块

79:水平光学尺       791:垂直光学尺

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于优升精机工业有限公司,未经优升精机工业有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/01233442.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top