[发明专利]记录和重放设备、记录和重放方法以及记录介质无效

专利信息
申请号: 01140690.9 申请日: 2001-09-21
公开(公告)号: CN1348175A 公开(公告)日: 2002-05-08
发明(设计)人: 松本义典 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 马莹,邵亚丽
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 记录 重放 设备 方法 以及 介质
【说明书】:

                        技术领域

一般,本发明涉及一种记录和重放设备,一种使用在该记录和重放设备中的记录和重放方法,以及用于记录该记录和重放方法的记录介质。更具体地,本发明涉及一种校正聚焦精度的记录和重放设备,一种使用在该记录和重放设备中的记录和重放方法,以及用于记录该记录和重放方法的记录介质。

                        背景技术

用于记录音频信号的由CD(光盘)表示的盘形记录介质已变得很普及。除了诸如CD之外的记录介质还包括用在比如计算机设备中用于存储程序的CD-ROM(光盘只读存储器)和以高图像质量记录运动图像的DVD-视频(数字通用光盘)记录介质。

另外,在用户方面,可以记录和重放信息的盘形记录介质也已正变得很普及。这种盘形记录介质的例子是采用磁光技术记录和重放信息的MD(微型盘)、MO(磁光盘),采用相变(phase-change)记录技术记录和重放信息的PD(相变光盘)和DVD-RAM(数字通用光盘-随机存取存储器)。

如上所述,存在着能够处理数字数据的各种盘形记录介质。另外,记录在盘形记录介质上的数字数据还具有若干种记录数据类型,例如字符、声音、静止图像和运动图像。随着近年来诸如微处理器之类装置的性能的提高,这种数字数据可以实时的方式处理并记录在记录介质上。

这就是描述在上面作为背景技术的原因,人们期望再增加存储数字数据的记录介质的记录容量。作为增加盘形记录介质的记录容量的可实现的技术,减小在重放或记录操作期间辐射到记录介质上的光束光点的大小,以增加记录表面的密度。光束光点的大小是由如下公式(1)给出的:

a=α×λ/NA                                 ...(1)

其中标号α表示由光强分布确定的系数,标号λ表示光束的波长和标号NA表示物镜的数字孔径。

正如从公式(1)看出的那样,为了减小光束光点的大小,必须降低波长λ和增加数字孔径NA。因此,利用具有小波长的半导体激光器和使用具有高数字孔径NA的物镜,可以获得小的光束光点。结果,可以增加在盘形记录介质上的记录数据的表面记录密度。另外,还可能构成能够将数据记录到具有大记录容量的记录介质和重放来自该记录介质的数据的记录和重放设备。

但是,随着光束光点直径的降低,聚焦点的深度也不可避免地降低了。因此散焦的裕度,即,聚焦偏差的裕度也降低了。聚焦点的深度成如下表达式所示的关系:

d∝λ/(NA)*2                                 ...(2)

正如从上面给出的比例关系(2)看出的那样,按照波长λ与数字孔径NA的比值关系,波长λ越短,数字孔径NA越大,聚焦点深度d就越小。

因此,为了在以高记录密度实现记录和重放操作中在聚焦点深度内定位记录表面,必须高精度地执行聚焦控制。

如上所述,通过降低激光器光束的波长λ,增加物镜的数字孔径NA并执行较高精度的聚焦控制,记录介质的记录容量可以被增加。在聚焦控制中的聚焦偏差解释如下。

在聚焦控制中产生聚焦偏差的原因包括:由于在伺服时间上的残余偏移引起稳态偏移;由于盘与盘之间的厚度变化引起的聚焦点位置的偏移;和由于安装盘的盘驱动器内部温度增加引起的偏移变化。

由于在伺服时间上的残余偏移引起的稳态偏移是由聚焦外部扰动部件的幅度和增益确定的。因此,在以高记录密度将数据记录到记录介质和重放来自记录介质的数据的操作中,通过减少诸如盘表面的振动的数量或每个外部扰动的幅度并通过提高增益,稳态偏差可以被降低。

由于盘与盘之间的厚度变化引起聚焦点位置的偏移可以在插入盘到盘驱动器时通过调整盘到最佳点的位置,从而改善聚焦的精度。通过参考事先设置在盘上的ROM区的诸如重放RF(射频)信号抖动次数和幅度的系数,将盘的位置调整到最佳点。ROM区是用于记录诸如盘与盘变化的ID信息的区。实际上,最佳点是通过将聚焦偏置值改变到各变化值求出的。

如上所述,由于在伺服时间上的残余偏移引起的稳态偏移和由于盘与盘之间的厚度变化引起的聚焦点位置的偏移可以通过在将数据记录到盘上或者重放来自盘上的数据的操作之前在该聚焦控制处理中执行减少聚焦点的偏移的处理而被减少。而当进行将数据记录到盘上或者重放来自盘上的数据的操作时,需要降低由于安装盘的盘驱动器内部温度的增加而引起的偏移变化。

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