[发明专利]差分相位检测装置和使用该装置的跟踪误差信号检测设备

说明书

技术领域

本发明涉及具有改进的结构的差分相位检测装置(differential phasedetection device))和使用该装置的跟踪误差信号检测设备。

                    背景技术

一般地说，如图1和图2所示，使用差分相位检测(DPD)的跟踪误差信号检测设备包括四部分光检测器10，用于接收由记录介质反射的光，以及差分相位检测装置20和30，用于接收从四部分光检测器10输出的4个检测信号a、b、c、d，产生多个相位差信号，并对多个相位差信号进行运算，以便检测跟踪误差信号TES′和TES″。

四部分光检测器10沿着相应于记录介质的径向的方向(R′方向)被分成两部分，沿着相应于记录介质的切线方向的方向(T′方向)被分成两部分。四部分光检测器10的第一到第四部分片(division plate)A、B、C、D按照反时针排列，并分别产生第一到第四检测信号a、b、c、d。

参见图1，作为常规的差分相位检测装置20的一个例子包括：4个电容器21，4个均衡器22，4个限幅器23，4个移相器24，两个相位差检测器25和27，以及矩阵电路29。电容器21对第一到第四各个检测信号a、b、c、d实行交流耦合，借以除去直流分量。每个均衡器22放大该通过电容器21输入的信号的高频分量。每个限幅器23将由均衡器22放大的信号数字化。每个移相器24将数字信号移相，从而控制最终输出的偏移或均衡。相位差检测器25检测从相应的两个移相器24输入的第一和第二检测信号a、b的数字化信号之间的相位差，并输出第一和第二相位差信号p1、p2。另一个相位差检测器27检测从相应的两个移相器24输入的第三和第四检测信号c、d的数字化信号之间的相位差，并输出第三和第四相位差信号p3、p4。矩阵电路接收第一到第四相位差信号p1、p2、p3、p4，并对它们进行处理，借以输出跟踪误差信号TES′。跟踪误差信号TES′是一个在第一和第三相位差信号p1，p3的和p1+p3及第二与第四相位差信号p2，p4的和p2+p4之间的差分信号。

因为常规的差分相位检测装置20包括用于检测相位差信号的两个相位差检测器25和27，所以差分相位检测装置20的总的体积大，并且其输出信号可能由于两个相位差检测器25和27的增益特性之间的差而变劣。

参见图2，作为另一个例子，示出了差分相位检测装置30，其结构克服了图1所示的差分相位检测装置20的问题。差分相位检测装置30包括4个电容器31，4个延迟单元32，两个均衡器33a、33b，两个限幅器34a、34b，两个移相器35a、35b，相位差检测器37以及矩阵电路39。在图1和图2中，相同的标号表示具有相同功能的相同的元件。

电容器31对从四部分光检测器10接收的第一到第四检测信号a，b，c，d实行交流耦合，借以除去直流分量。

延迟单元32将从各个电容器31接收的信号进行时间延迟。提供延迟单元32用于补偿最后输出即跟踪误差信号TES″的偏移，所述偏移是当光学拾取器的物镜发生移动时，或者当在光盘上记录的坑的深度偏离规定的值时发生的。延迟单元32将从前面的第一和第二分片A、B沿T′方向输出的第一和第二检测信号a、b，或者从后面的第三和第四分片C、D输出的第三和第四检测信号c，d相对地延迟。延迟单元32适当地延迟第一检测信号a和/或第三检测信号c，使得施加于第一检测信号a的延迟值相对于第三检测信号c是正的或者是负的。类似地，延迟单元32适当地延迟第二检测信号b和/或第四检测信号d，使得施加于第二检测信号b的延迟值相对于第四检测信号d是正的或者是负的。

从延迟单元32输出的第一和第三检测信号a和c由均衡器33a相加并均衡。从延迟单元32输出的第二和第四检测信号b和d由均衡器33b相加并均衡。限幅器34a、34b分别数字化来自均衡器33a、33b的放大的和信号。移相器35a、35b移动各个数字化的和信号的相位，以便控制最后的输出的偏移或均衡。相位差检测器37检测从各个移相器35a、35b接收的和信号之间的相位差，并输出两个相位差信号p5、p6。矩阵电路39对从相位差检测器37接收的两个相位差信号p5、p6进行差分运算，从而输出跟踪误差信号TES″。

因为图2的差分相位检测装置30包括一个相位差检测器37，所以不会发生在图1的装置中发生的在两个相位差检测器25和27之间的增益误差问题。