[发明专利]光盘设备有效
| 申请号: | 01136170.0 | 申请日: | 2001-11-15 |
| 公开(公告)号: | CN1354463A | 公开(公告)日: | 2002-06-19 |
| 发明(设计)人: | 久世雄一;渡边克也;山元猛晴;岸本隆;藤畝健司 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | G11B7/00 | 分类号: | G11B7/00;G11B7/085;G11B21/10 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王敬波 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光盘 设备 | ||
1.一种光盘设备,可用于包括条形码区和控制数据区的光盘,该控制数据区在光盘的半径方向上邻接条形码区,所述光盘设备包括:
一个光学头,用于使一个光束指向所述光盘,从而在该光盘上形成一个光点,并且按照由该光盘反射的光束来输出信号;
一个条形码区确定部分,用于根据由所述光学头输出的信号,来确定所述光点是否定位于所述光盘的条形码区;以及
一个控制部分,用于控制所述光学头,以便当所述光点被确定为位于所述条形码区上时,使所述光点移向所述控制数据区。
2.如权利要求1所述的光盘设备,其中,所述光盘还包括一个记录和再现区,所述光学头在该记录和再现区上记录信号。
3.如权利要求1所述的光盘设备,还包括:
一个控制数据区确定部分,用于确定所述光点是否定位于所述光盘的控制数据区上;以及
一个地址检测部分,用于当所述光点被确定为位于所述控制数据区上时,根据由所述光学头输出的信号,来检测表示所述光点在所述光盘上的位置的地址,
其中,所述控制部分根据由所述地址检测部分检测到的地址,来控制所述光学头的移动。
4.如权利要求1所述的光盘设备,还包括:
一个控制数据区确定部分,用于确定所述光点是否定位于所述光盘的控制数据区,
其中,所述控制部分控制所述光学头,以使该光学头移向所述控制数据区,直到所述光点被确定为处于所述控制数据区上为止。
5.如权利要求1所述的光盘设备,其中:
在由所述光盘的控制数据区反射光束的情况下,由所述光学头按照该光束而输出的信号的周期中的最大周期被设定为设定周期,
在由所述光盘的条形码区反射光束的情况下,由所述光学头按照该光束而输出的信号的周期大于所述设定周期,并且,
所述条形码区确定部分包括:
一个最大周期检测部分,用于检测由所述光学头输出的信号的最大周期;以及
一个周期比较部分,用于比较由所述最大周期检测部分所检测的最大周期与所述设定周期,以便确定所述光点是否定位于所述条形码区上。
6.如权利要求5所述的光盘设备,其中,当由所述最大周期检测部分所检测的最大周期充分大于所述设定周期时,所述周期比较部分确定所述光点定位于所述条形码区上。
7.如权利要求1所述的光盘设备,其中,所述条形码区确定部分包括:
一个最大周期检测部分,用于检测由所述光学头输出的信号周期中的最大周期;
一个读时钟周期检测部分,用于检测由所述光学头输出的信号的读时钟周期;以及
一个周期比较部分,用于在由所述光盘的条形码区反射光束的情况下,对于由所述最大周期检测部分所检测的最大周期和由所述读时钟周期检测部分所检测的读时钟周期之间的比率,与按照所述光束对信号设定的设定时钟系数进行比较,以便确定所述光点是否定位于所述条形码区中。
8.如权利要求7所述的光盘设备,其中,所述读时钟周期检测部分包括:
一个最小标记长度检测部分,用于检测从光盘读取的信号的最小标记长度;以及
一个读时钟周期获取部分,用于根据由所述最小标记长度检测部分所检测的最小标记长度以及所述最小标记长度的规定系数,来获取读时钟周期。
9.如权利要求1所述的光盘设备,其中,所述条形码区确定部分包括:
一个最大周期检测部分,用于检测由所述光学头输出的信号周期中的最大周期;
一个旋转周期测量部分,用于测量所述光盘的旋转周期;以及
一个周期比较部分,用于根据由所述最大周期检测部分所检测的最大周期和由所述旋转周期测量部分所测量的旋转周期,来确定所述光点是否定位于所述光盘的条形码区上。
10.如权利要求1所述的光盘设备,其中,所述条形码区确定部分在规定的时间内,确定所述光点是否定位于所述光盘的条形码区上,所述规定的时间相应于所述光盘的旋转周期的至少11/12。
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