[发明专利]伸长的线状缺陷的定位

说明书

发明领域

本发明涉及摄影，更具体地说涉及数字照相加工应用中照相材料上的伸长的线状缺陷的定位。

背景技术

照相材料(如胶片)上图像的扫描再现中通常会出现伸长的线状缺陷。这种缺陷包括，但不限于划痕，坑缺，冲洗拖痕，涂层的条痕，涂层的波纹，扫描仪的缺陷等。例如，制造照相材料时，涂层加工时的缺陷可能会导致沿照相材料的纵向的影响一个或多个感光层的狭长区域，被称为条痕。因为这个或这些受影响的层的原因，在此条痕区域中的感光材料和/或联结剂的量上存在了变化。这种变化本身体现在条痕区域的异常特征数据。在第二实例中，照相机中的尘粒可能会导致当送片通过尘粒上时因压力敏感的作用而形成表现为伸长的线状缺陷的可显影潜像。

在本领域中，已知的是利用在胶卷上曝光的校准补片来实现光学冲印时更佳的曝光控制。有关范例，参见一九九八年六月十六日授予Terashita的美国专利5,767,983。还可见到，参考校准补片的运用在确定数字印刷中所用的扫描胶片数据的校准值方面的是很有用的。例如，参见一九九七年九月十六日授予Reem等人的美国专利5,667,944以及一九九七年七月十五日授予Wheeler等人美国专利5,649,260。

虽然伸长的线状缺陷可能导致景象的图像上的非期望的人为缺陷，但是当这种缺陷发生在包含感光方式曝光的补片的参考校准图像时，它们的影响可能会更为有害。如果这种缺陷可以被检测和查找到，则可以将图像缺陷的位置馈送到预设来测量感光补片的软件，以使这种软件可以避免使用从缺陷区域所导出的数据或运用适当的重构技术来恢复受影响的数据。

在先有技术中，一九九八年四月七日授予Takada等人的美国专利5,736,996和一九九三年一月二十三日授予Ohtsubo等人的美国专利5,189,521描述了通过在记录媒体上铺设测试目标来自动检测图像的不均匀性的方法。但是，关注非均匀性的原本是记录头，而非记录图像的假定均匀的媒体。一旦检测到非均匀性，记录头就自动被校准，以将均匀的密度传送到记录媒体，无论记录头中是否存在非均匀性。当这种缺陷产生于记录媒体中，而非记录装置时或发生在记录步骤之后，此先有技术则无法修补这种非均匀性，因为无法在冲印参考校准目标时确定这些缺陷的位置和严重性。

Rafael Gonzalez and Paul Wintz，Addison-Wesley出版公司，Reading，MA，1997的《数字图像处理》中所描述的查找数字图像中的线状对象的标准技术，直观图像分段和说明技术可以运用来查找据称为均匀的感光补片中的这种缺陷。但是，在具有呈现低信噪比的曝光量的补片中，这种检测算法就崩溃了。无法检测这种补片中的缺陷可能会导致补片的密度估算值或噪声级别上的偏差。在校准过程中使用讹误的数据可能会以有害的形式影响整个图像。再者，在高度结构化的非均匀图像(如二维条码)中，这些标准技术无法可靠地区分条码部分和人为缺陷所导致的部分的线状特征。

发明概述

因此，需要一种改进的方法来检测和查找照相材料的扫描图像中的线状缺陷。

根据本发明，满足此要求的方法是：提出了一种查找照相材料上线状缺陷的方法，所述材料具有有效的成像宽度和与所述材料的纵向一致的缺陷，所述方法包括下列步骤：使所述材料的一定区域曝光，以形成横跨所述材料有效成像宽度的基本上均匀的潜像；将所述潜像显影以产生密度信号；利用测光装置对所述密度信号取样；以及分析所取样的密度数据，确定与所述材料纵向一致的显著离差的存在，以查找所述缺陷。

附图简介

图1是包括根据本发明的缺陷检测曝光的胶卷的示意图；

图2是包括根据本发明的用于缺陷检测的方法的步骤的示意图；以及

图3是帮助讨论根据本发明的分析步骤的示意图。

实施例的详细描述

根据本发明，对横跨照相材料的典型曝光区域的宽度的区域(例如，胶卷上胶片帧的有效宽度)进行充分均匀的曝光量的曝光。