[发明专利]用于增进可刻录光盘刻录优良率的方法及装置

说明书

                         技术领域

本发明关于一种用于提高可刻录光盘(CD-Recordable)(CD-R)刻录优良率(recordable yield)的方法及装置，其依据光盘片的质量来调整刻录速度以提高刻录质量及优良率。

                         背景技术

在飞利普公司(Philip Co.)于1990年制定的橙皮书定义的可刻录光盘标准被广泛应用于光盘(CD)技术后，不断发展的可刻录光盘已渐渐成为个人计算机中的标准配备。可刻录光盘(CDRW)的工作原理是以高瓦数的激光束在空白光盘片(blank CD)烧出可以读取的凹凸部分(pit and land)。由于该凹凸部分在激光照射后会呈现出具有信号误差的反射光，因此可以由一般的光盘机读取。为了刻录数据到一空白光盘片上，在该空白光盘片表面上以溅射方式涂布一层可以被激光改变材质的染料，例如，花青染料及偶氮金属染料。

此外，在可刻录光盘的发展中，先后以恒线速度及恒角速度两写入模式为发展重心。目前可刻录盘片成功率的最大问题来自于盘片质量的差异。即使同一识别码(同批厂商)的盘片质量，因每次染料涂布的调配及溅射的操作等因素，也会有所差异，进而影响盘片对激光的吸收及反射，尤其以染料对高能量刻录激光吸收分解所产生的变化会使形成的射频信号变形(transform)。例如，目前CLV可刻录方法为变动光功率控制(running OPC：running optical power control)。此变动光功率控制利用读写头(pickup)由内到外监测写入射频信号(WRF：Write Radio Frequency)的第一(此后称为A)、第二(此后称为B)、第三(此后称为C)电平来调整出光的激光功率。这种方法的最大问题为：并不是所有盘片在恒速下调整光的激光功率即可得到理想的WRF的A、B、C电平。也就是，前述以溅射涂布的染料若在盘片内外具有相当大的差异时，例如，厚度及均匀度，则单是恒速是无法调整出所需的WRF的A、B、C电平。在CAV刻录模式中，EFM的时钟是随盘片上摇摆信号(wobble signal)的周期而变化。而且，读写头在每一点的切线速度的差异必须适时的予以适当的刻录延迟时间。同时，此刻录延迟时间必须在每一不同主轴电动机的转速上分别建立。在数据从主机下载至可刻录光盘的编码器中编码成EFM信号后，通过读写头的激光能量控制将EFM图案(pattern)刻录至盘片。在刻录同时反射回来的RF信号称为WRF。WRF的形状因激光速度、刻录延迟及盘片温度而改变。今以盘片刻录中的热影响所造成的边缘位移(Edge Shift by Thermal Interference)为例，分别示于图1及图2。图1是WRF信号边缘后移结果示意图。图2是WRF信号前缘后移而后缘前移结果示意图。如图1及2所示，当以一射频信号作为反馈信号并经信号处理取出其逻辑变化后，与原刻入用编码器(未显示)的EFM信号图案(pattern)信号比较以作为量测动态时间偏差(jitter)值Error1及Error2的参考。接着，按数据片(data slice)取出WRF信号即按成片的(Sliced)WRF 1、2来表示刻录在盘片的实际图案长度。最后，将成片的WRF 1、2与编码器的EFM 1、2经相位比较的结果利用一低通率波器取出，其为一相位误差的参考电平。当刻录时，不论是CD-R或CD-RW都是使用激光能量加热于染料上，传统方式，物理凹面(physical pit)信号的边缘位置依据开始刻录的温度决定，如果刻录较长的凹面信号时，盘片温度停留在高温的时间延长，因此，激光能量关断后温度不会立即下降，所以成片的WRF信号1、2的边缘相对于编码器的输出EFM信号1、2后移。反之，若刻录较短则会发生图2中WRF信号后缘前移情况。上述状况皆会产生动态时间偏差(Jitter)值Error1及Error2。因此必须通过调整刻录延迟及激光能量来改善。若是无法经由上述方法来改善，则必须降速。另外，图1中，亦显示依橙皮书(Orange Book)标准所取得WRF的A、B、C电平值。WRF的波形(profile)与染料晶化深度相关，而染料晶化深度与时间延迟(3T-11T)射频波形的对称性有关。如果在高速下无法利用写入激光功率来得到所需的A、B、C电平值，则必须降速。然而，对于降速的要求却是目前恒速的CLV刻录技术所无法达到的。

因此，本发明的目的是提供一种用于增进可刻录光盘刻录优良率的方法及装置，其在刻录过程中，会依盘片优劣灵活地调整刻录速度，以此提高刻录质量并增加优良率。