[发明专利]检测摆动缺陷的设备和方法

说明书

                    技术领域

本发明涉及光记录介质，尤其涉及利用从具有摆动(wobble)模式的光记录介质检测到的摆动信号检测摆动缺陷的设备和方法。

                     背景技术

到目前为止，已经开发了几种类型的光盘，譬如，数字多用途盘-随机存取存储器(DVD-RAM)、可记录DVD(DVD-R)、可重写DVD(DVD-RW)和DVD+RW等。摆动模式存在于光记录介质中平台与凹槽的边界区域上。因此，如果在摆动模式中发生了许多差错，那么就有很大可能性在平台和凹槽上的数据域中存在差错。

并且，根据摆动模式的摆动信号可以用于在光盘上记录位置信息。此外，摆动信号还可以用作检测记录/重放位置的基准时钟，或生成基准时钟的基准信号。因此，在使用光记录介质的过程中，根据存在于光记录介质上的摆动模式的摆动信号是非常重要的。

                     发明内容

为了解决上面问题，本发明的目的是提供利用从光记录介质检测到摆动信号检测摆动模式中的缺陷的设备和方法，借此，当在光记录介质上记录数据时，如果在摆动模式中存在缺陷，则对相应的缺陷区进行核验。

因此，为了达到上面的目的，本发明提供了检测在光记录介质上的摆动模式中的缺陷的设备，所述设备包括：锁相环(PLL)，当施加来自摆动模式的摆动信号时，生成锁相环摆动信号和摆动时钟信号；窗信号发生器，当施加锁相环摆动信号和摆动时钟信号时，根据预定窗宽条件生成指示摆动窗时段(period)的信号；摆动锁定/开锁检测器，当施加摆动窗信号和摆动信号时，根据预定摆动锁定和开锁条件输出检测锁定状态和开锁状态之一的信号；和摆动缺陷检测器，当施加检测锁定状态和开锁状态之一的信号、摆动窗信号和摆动信号时，根据预定缺陷判定条件检测在摆动模式中是否存在什么缺陷。

最好，考虑摆动时钟信号的个数设定窗宽条件。考虑在摆动窗时段内存在摆动信号的连续检测次数设定摆动锁定条件，和考虑在摆动窗时段内不存在摆动信号的连续检测次数设定摆动开锁条件。考虑在摆动锁定状态下，在摆动窗时段内连续没有检测到摆动信号的次数设定预定缺陷判定条件。最好，摆动缺陷检测器检测对每个块或每个扇区是否存在缺陷。

本发明还提供了在光记录介质上检测摆动模式中缺陷的方法，所述方法包括：在锁相环(PLL)中锁相来自摆动模式的摆动信号，和生成锁相环摆动信号和摆动时钟信号；利用锁相环摆动信号和摆动时钟信号生成具有预定窗宽的摆动窗信号；当在通过摆动窗信号设定摆动窗时段内摆动信号的存在满足预定摆动锁定或开锁条件时，检测摆动锁定或开锁状态；和当摆动锁定状态下在摆动窗时段内摆动信号的存在满足预定缺陷判定条件时，生成缺陷检测信号。

                 附图说明

通过结合附图对本发明的优选实施例作详细描述，本发明的上述目的和优点将更加清楚，在附图中：

图1是本发明的摆动缺陷检测设备的功能性方块图；

图2是图1所示锁相环(PLL)的详细方块图；

图3是图1所示设备的操作时序图；

图4显示了图1的摆动锁定/开锁检测器的范例；和

图5显示了图1的摆动缺陷检测器的范例。

                  具体实施方式

参照图1，本发明检测摆动缺陷的设备包括：锁相环(PLL)101、摆动窗信号发生器103、摆动锁定/开锁检测器105、和摆动缺陷检测器107。当通过射频放大器(RF-AMP)(未示出)从光记录介质(未示出)施加摆动信号时，PLL 101利用施加的摆动信号输出与重放时钟信号或信道时钟信号相对应的摆动时钟信号Wbclk、和锁相环信号PWB。如图2所示，PLL 101包括相位比较器201、低通滤波器LPF 202、压控振荡器(VCO)203、和分频器204。