[发明专利]彩色阴极射线管无效
| 申请号: | 01116632.0 | 申请日: | 2001-04-12 |
| 公开(公告)号: | CN1337730A | 公开(公告)日: | 2002-02-27 |
| 发明(设计)人: | 中村智树;坂元博次;加藤真一 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所;日立装置工程株式会社 |
| 主分类号: | H01J29/50 | 分类号: | H01J29/50;H01J31/20 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张志醒 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 彩色 阴极射线管 | ||
本发明涉及一种彩色阴极射线管,更具体地,涉及一种彩色阴极射线管,它具有能够在一个宽的荧光屏上获得良好的聚焦的电子枪,无需增加控制与电子束的偏转相关的象散的校正和图象弯曲的校正的聚焦电压。
在例如电视显象管、信息终端设备的监视器管、其它的显示器管等的阴极射线管中,从电子枪发射出的电子束在构成水平方向和垂直方向的两个方向上扫描其上形成有荧光材料的荧光屏(以下,有时简称“屏幕”),以形成所给的图象。
对于用在这种类型的彩色阴极射线管中的电子枪来说,为了在荧光屏的整个区域上获得良好的聚焦特性,需要执行对对应于所发射的电子束的偏转角的电子束在荧光屏的着屏点的形状的控制。
近来,安装具有其平的屏面的外表面的平面管(平面型彩色阴极射线管)的监视器或电视显象管已商业化。特别地,对于具有在其对角方向有51cm的有效直径等的平面管来说,屏幕的中心部分和周边部分的聚焦差别变得很大。
作为一种减小这种聚焦差别的对策,已知有一种方法,其中构成电子枪的一个聚焦电极被分为多个电极部件,并且向聚焦电极施加一个固定电压的聚焦电压和通过叠加一个与该固定电压的偏转量同步改变的动态电压而产生的另外的聚焦电压,以构成一个静电四极透镜和一个象场弯曲校正透镜。据此可以减小由于偏转角的增加而导致的屏幕周边的聚焦的恶化。
图19是一个示意图,用于解释一个应用于阴极射线管的电子枪的普通透镜的结构。在该图中,BS表示一个电子束产生部分,PFL表示一个预聚焦透镜。FL表示一个前级主聚焦透镜,IL表示一个象场弯曲校正透镜、ML表示一个后级主聚焦透镜(也成为终级主聚焦透镜),以及SC表示一个荧光屏。
上述各透镜设置在荧光屏SC的从电子束产生部分BS侧沿管轴Z-Z的方向上。这些透镜对电子束产生部分BS产生的电子束B进行聚焦,然后对电子束B进行加速,最后使电子束B撞击荧光屏SC,使得形成电子束点(以下简称“束点”)。
更具体地,上述电子枪由以下部分构成。电子束产生部分(三极管部分),它由一个阴极(通常称为“K”)、一个控制电极(通常称为“G1”)和一个加速电极(通常称为“G2”)构成并且产生多个电子束,和一个主透镜部分,它由聚焦电极(通常称为“G3”、“G4”、“G5”)和一个阳极(通常称为“G6”)制成并且对由电子束产生部分所产生的射向荧光屏的电子束进行聚焦。
这里,电子枪采用一种多级动态聚焦(MDF)系统。其中,聚焦电极(G5)被分为多个电极部件。通过向分开的电极部件施加一个固定的聚焦电压和通过叠力一个与偏转量同步改变的动态电压而产生的动态校正电压,便构成设置来用于确保在荧光屏的一个宽的范围的预期的聚焦特性的一个静电四极透镜和一个象场弯曲校正透镜。大多数传统的电子枪采用非多级动态聚焦。
图20是一个施加在分为多个电极部件的聚焦电极上的聚焦电压的解释图。而且,图21是一个产生两个聚焦电压的回扫变压器的一个输出电压的解释图。
如图20所示,电子枪的聚焦电极G5被分为多级(这里,构成电极部件A、B和C的三级),以便构成一个复合透镜型的电子枪,并且在电极部件A、B和C中间形成静电四极透镜和象场弯曲校正透镜。象场弯曲校正透镜被设置来用于校正从编转的中心至荧光屏的距离的差,并且通常被设置在静电四极透镜和荧光屏两者中更接近后者的一个位置。
静电四极透镜控制通过静电四极透镜的束点的剖面部分。使得将荧光屏上的束点的形状缩减成一个类似于圆的形状。
第一固定电压Vf1被施加到电极部件B,通过将一个与偏转量同步改变的动态电压dVf叠加到第二固定电压Vf2而产生的另外的聚焦电压(Vf2+dVf)被施加到电极部件A和C。
上述聚焦电压Vf1、Vf2+dVf是由图21所示的回扫变压器FBT产生的。这里,Eb表示一个施加带阳极G6上的阳极电压(最大电压),Ec2表示一个施加到电子枪的另外的电极(G2,G4)上的大约600V的预聚焦电压。
图22是一个施加在分开的聚焦电极的电极部件上的聚焦电压的解释图,其中,1V表示1垂直偏转周期(1帧周期或1场周期),并且1H表示1水平偏转周期。
当动态电压dVf增加时,即,当电子束的偏转量变大时(在电子束偏转向屏幕的周边部分时),象场弯曲校正透镜处的电位差变小,使得透镜的强度下降。因此,将电子束聚焦的力在偏转电子束时变弱,使得图象弯曲被校正。
这种类型的传统技术公开在例如日本待公开专利申请43532/1992和日本待公开专利申请61309/1995。
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