[发明专利]校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备

权利要求书

1．一种校核将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的DMA信息生成和更新功能的方法，该方法包括：

在利用含有测试基准信息的测试盘的记录和再现设备中进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化，并从重新初始化后生成的DMA信息中生成测试信息；和

将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息进行比较以提供测试信息的校核结果。

2．根据权利要求1所述的方法，其中，进行重新初始化包括对测试盘进行没有认证的重新初始化。

3．根据权利要求1所述的方法，其中，在进行重新初始化过程中的测试基准信息是镜像文件。

4．根据权利要求1所述的方法，其中，在进行重新初始化过程中的测试基准信息是使数个缺陷包括在主要缺陷列表(PDL)中那样构成的DMA镜像文件。

5．根据权利要求4所述的方法，其中，进行重新初始化包括：执行具有从测试盘上的DMA清除预定缺陷表包括消除G2-列表和次要缺陷列表(SDL)的重新初始化。

6．根据权利要求5所述的方法，其中，测试信息是镜像文件。

7．根据权利要求6所述的方法，其中，相比较包括校验G2-列表和SDL是否存在于测试信息中。

8．根据权利要求7所述的方法，其中，相比较包括检验在测试信息中是否保持包括在测试基准信息中的P-列表和G1-列表。

9．根据权利要求6所述的方法，其中，相比较包括：

校核测试信息中DMA的结构；

校核测试信息的盘定义结构(DDS)；

校核测试信息的主要缺陷列表(PDL)；和

校核测试信息的次要缺陷列表(SDL)。

10．根据权利要求9所述的方法，其中，校核DMA结构包括校验DMA错误状况、DDS/PDL和SDL更新计数器和DMA的内容。

11．根据权利要求10所述的方法，其中：

校验DMA的错误状况包括：校验错误是否存在于四个DMA的任何一个中，这四个DMA是写入测试盘上的四个位置中的DMA，其中的两个位于测试盘上的导入区中和其中的两个位于测试盘上的导出区中；

校验DDS/PDL更新计数器包括校验在四个DDS中和在四个SDL中的DDS/PDL更新计数器的值是否是“以前的值”，校验代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新计数器中的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否是“1”，和校验DDS/PDL更新计数器的值是否相同；

校验SDL更新计数器包括：校验在四个SDL中的SDL更新计数器的值是否是“以前的值”，校验代表进行包括：清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在SDL更新计数器中的差值的SDL更新计数器增量是否是“1”，和校验SDL更新计数器的值是否相同；和

校验DMA的内容包括：校验四个DMA的内容是否相同。

12．根据权利要求9所述的方法，其中，校验DDS包括：校验DDS标识符、盘认证标志、DDS/PDL更新计数器、组数、区数、主要备用区的位置、第一逻辑扇区号的位置、和关于每个区的开始逻辑扇区号。