[发明专利]摆动信号重放电路无效
申请号: | 01111729.X | 申请日: | 2001-03-16 |
公开(公告)号: | CN1316729A | 公开(公告)日: | 2001-10-10 |
发明(设计)人: | 西村孝一郎;广濑幸一;胜木学;竹内敏文 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G11B7/00 | 分类号: | G11B7/00;G11B20/10 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 吴增勇,傅康 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 摆动 信号 重放 电路 | ||
1.一种摆动信号重放电路,用于通过摆动盘上形成的凹槽来重放所记录的摆动信号,它包括:
运算电路,用于计算推挽信号;
带通滤波器,用于从所述运算电路的输出信号中提取摆动频率分量;
设置在所述运算电路前级或内部的AGC(自动增益控制)电路;和
槽间平面预置坑检测装置,用于检测在凹槽之间不记录信息的槽间平面部分中形成坑的槽间平面预置坑区,
其特征在于,重放所述槽间平面预置坑区时,固定所述AGC(自动增益控制)电路的增益,或按照所述槽间平面预置坑检测装置的检测信号来转换所述AGC(自动增益控制)电路的响应时间常量。
2.一种摆动信号重放电路,用于通过摆动盘上形成的凹槽来重放所记录的摆动信号,它包括:
运算电路,用于计算推挽信号;
带通滤波器,用于从所述运算电路的输出信号中提取摆动频率分量;
设置在所述运算电路前级或内部的AGC(自动增益控制)电路;和
地址信息记录区检测装置,用于检测地址信息记录区,其中在凹槽记录轨被分割的槽间平面部分形成地址,
其特征在于,重放所述地址信息记录区时,固定所述AGC(自动增益控制)电路的增益,或按照所述地址信息记录区检测装置的检测信号来转换所述AGC(自动增益控制)电路的响应时间常量。
3.按照权利要求2的摆动信号重放电路,其特征在于还包括位于用来从所述推挽信号提取所述摆动信号的所述带通滤波器的输出端的第二AGC(自动增益控制)电路,
其中,在重放所述地址信息记录区时,固定所述AGC(自动增益控制)电路和所述第二AGC(自动增益控制)电路的增益,或者转换所述AGC(自动增益控制)电路和所述第二AGC(自动增益控制)电路的响应时间常量。
4.按照权利要求1的摆动信号重放电路,其特征在于还包括用于检测待重放盘的划痕或指印的装置,
其中,固定所述AGC(自动增益控制)电路的增益,或按照所述装置的检测信号和所述槽间平面预置坑检测装置的检测信号的或运算输出信号来转换所述AGC(自动增益控制)电路的响应时间常量。
5.按照权利要求3的摆动信号重放电路,其特征在于还包括用于检测待重放盘的划痕或指印的装置,
其中,固定所述AGC(自动增益控制)电路和所述第二AGC(自动增益控制)电路的增益,或者按照所述装置的检测信号和所述地址信息记录区检测装置的检测信号的或运算输出信号来转换所述AGC(自动增益控制)电路和所述第二AGC(自动增益控制)电路的响应时间常量。
6.按照权利要求1的摆动信号重放电路,其特征在于所述槽间平面预置坑检测装置按照对应于槽间平面预置坑区位置的检测信号或从所述装置的检测信号产生的信号、以及与所述盘转速同步得到的时钟来检测槽间平面预置坑记录区。
7.按照权利要求2的摆动信号重放电路,其特征在于所述地址信息记录区检测装置按照对应于地址信息记录区位置的检测信号、从所述检测信号和摆动信号生成的信号、或者从所述装置的检测信号生成的信号和与所述盘转速同步得到的时钟来检测地址信息记录区。
8.一种摆动信号重放电路,用于通过摆动盘上形成的凹槽来重放所记录的摆动信号,它包括:
运算电路,用于计算推挽信号;和
带通滤波器,用于从所述运算电路的输出信号中提取摆动频率分量;
其特征在于所述带通滤波器的通频带基本与所述盘转速同步所得到的时钟频率成正比,并且所述通频带和所述时钟频率之间的比例系数可以改变。
9.按照权利要求8的摆动信号重放电路,其特征在于还包括用于检测所述盘的划痕或指印的划痕检测电路,和
用于在检测所述划痕时固定所述带通滤波器的通频带的装置。
10.按照权利要求8的摆动信号重放电路,其特征在于还包括用于测量与所述盘转速同步所得到的时钟频率和用于在正常重放时所述频率变化大的情况下固定所述带通滤波器的通频带的装置。
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