[发明专利]高可靠数据保护磁头及磁盘设备与不会误擦除数据的方法无效
申请号: | 01111364.2 | 申请日: | 2001-03-14 |
公开(公告)号: | CN1313585A | 公开(公告)日: | 2001-09-19 |
发明(设计)人: | 富山大士;滨口雄彦;原美纪;赤城文子;西田靖孝 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G11B5/127 | 分类号: | G11B5/127 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王以平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 可靠 数据 保护 磁头 磁盘 设备 不会 擦除 方法 | ||
本发明涉及磁记录设备,尤其涉及磁盘设备和磁头。
根据磁性膜的磁化方向把磁盘设备分类为纵向磁记录系统和垂直磁记录系统。垂直磁记录系统比纵向磁记录系统容易实现更高记录密度,并且期望在将来得到实际应用。例如在日本磁学会志期刊第19卷增刊第S2期122到125页中可看到这种磁头的例子。而且例如在IEEETransaction on Magnetics的第35卷第5期2652(1999)页的文章“Activation Volume and Correlation of Media Noise In High-DensityLongitudinal Recording Media”和IEEE Transaction on Magnetics的第35卷第5期2655(1999)页的文章“Rigid Disk Medium for 20 Gb/in2Recording Demonstration”中,描述了这种磁记录膜中的记录的磁化强度和外部磁场的效果与特性的依赖关系。
在上述垂直磁记录系统和纵向磁记录系统中,使用了具有相同的基本结构的磁头。下面就与本发明相关的部分说明其代表性示例。
磁头安装其上的旋转致动器的一般视图如图1所示并且图2表示磁头1的放大视图。图2是从磁头1的上面看去的平面图。为把磁头1定位在磁盘设备中,使用旋转致动器2。磁盘3和磁极厚度方向91的由旋转方向(圆周方向)形成的角度定义为倾斜角S。在具有旋转致动器2的磁盘设备中,倾斜角根据磁头在径向上的位置而改变。通常,倾斜角S根据磁头径向位置在大约20度的范围内变化。
如图2所示,磁头1包括第一磁极15、作为第二磁极的记录磁极8和再现磁头部分6。图中所示例子是环形磁头。记录磁极8具有磁极膜厚9和写入磁道宽度7。在诸如这个例子的记录和再现磁头的情况下,把再现磁头6设置成与记录磁头堆叠在一起。信号处理系统的布局等如后所述。在下面的图中,磁盘的旋转方向(圆周方向)以标号4表示,倾斜角以符号S表示。
考虑磁存储器件的磁道密度的提高,磁头的磁道宽度作得越来越小。随着记录磁头的磁道宽度7降低,在磁头中产生的磁通难以通过记录磁极。因此,磁头的记录磁极很容易饱和,降低了对记录媒体的泄漏磁通。因此,在使用具有小磁道宽度的磁头在记录媒体上记录信息时,要求增大记录磁头的磁极厚度8或增强记录磁头的磁极材料的饱和磁通密度,以从记录磁极产生足够的磁场。
本发明提供甚至在高记录密度的磁记录中都能够确保充分稳定的记录状态的磁盘设备。尤其,本发明解决下面的难题。在磁盘设备中,在向上述倾斜角大的区域记录信息时,产生这样的状态:当把信息记录到目标磁道时,把来自写入极的磁场应用于相邻磁道。这种条件下,加速了磁道上媒体所记录信息的热衰退。反复向同一磁道再写入导致记录的信息的热衰退的进一步加速。本发明提供磁头和磁盘设备,其中,甚至在倾斜角大的区域中也不加速记录在相邻磁道中的信息的热松弛。
而且,本发明建议一种信息记录系统,使得不容易加速热衰退。
根据本发明的一方面,提供一种磁盘设备,包括:至少一个用于记录的磁头、旋转的磁盘和用于把记录磁头相对于旋转磁盘定位的装置,其中,记录磁头包括相对于磁盘的旋转方向设置在上游侧的第一磁极和设置在下游侧的第二磁极,第一和第二磁极具有彼此面对的部分,把第二磁极形状设置为沿着磁盘径向测量第二磁极突出到磁盘表面的长度不大于磁盘的磁道间距。
根据本发明的另一方面,提供一种磁盘设备,包括:至少一个用于记录的磁头、旋转的磁盘和用于把记录磁头相对于旋转磁盘定位的装置,其中,记录磁头包括相对于磁头的旋转方向设置在上游侧的第一磁极和设置在下游侧的第二磁极,第一和第二磁极彼此面对,在第一和第二磁极的面对侧之间形成一个写入间隙,第二磁极形状为在横截写入间隙的第一侧和面对写入间隙的第二侧之一之间有一个第三侧。
在一个模式中把第三侧提供在第二磁极的更靠近写入间隙的一侧上,并且在另一个模式中把第三侧提供在第二磁极的更远离写入间隙的一侧上。
而且,把磁极形状设置为在记录媒体的径向与磁极的磁道宽度方向之间形成的角度最大的径向位置处,沿着磁盘径向测量第二磁极突出到磁盘表面的长度不大于磁盘的磁道间距。
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