[发明专利]高分子基热敏阻抗元件及其制造方法无效
申请号: | 01109711.6 | 申请日: | 2001-03-19 |
公开(公告)号: | CN1375839A | 公开(公告)日: | 2002-10-23 |
发明(设计)人: | 林建荣 | 申请(专利权)人: | 宝电通科技股份有限公司 |
主分类号: | H01C7/04 | 分类号: | H01C7/04;H01C7/02 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 过晓东 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高分子 热敏 阻抗 元件 及其 制造 方法 | ||
1、一种高分子基热敏电阻元件的制造方法,包括下述步骤:
提供一高分子基材;
对该高分子基材搀入导电粒子,使该搀有导电性粒子的高分子基材成为填充复合材料;
对该填充复合材料进行交联;
对该交联过的填充复合材料进行简式剪切力加工,使该填充复合材料的应变量大于百分之一。
2、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所述高分子基材为高密度聚乙烯。
3、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所述导电粒子为高导电炭黑。
4、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所搀入的导电粒子的重量比为百分之五至百分之五十。
5、如权利要求4所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所搀入的导电粒子的重量比为百分之十。
6、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中对该填充复合材料进行交联,是使用γ射线照射。
7、如权利要求6所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中对该填充复合材料进行交联,是使用10Mrads以上的γ射线照射。
8、如权利要求7所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中对该填充复合材料进行交联,是使用15Mrads以上的钴六十γ射线照射。
9、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所进行的简式剪切力加工,使该填充复合材料的应变量达到百分之五至百分之三百之间。
10、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所进行的简式剪切力加工,使该填充复合材料的应变量达到百分之一百。
11、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所述导电粒子为镀镍石墨粉。
12、如权利要求11所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所搀入的导电粒子的重量比为百分之六十五至百分之九十。
13、如权利要求12所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所搀入的导电粒子的重量比为百分之七十五。
14、如权利要求11所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所进行的简式剪切力加工,使所述填充复合材料的应变量达到百分之一至百分之三百之间。
15、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所述导电粒子为导电炭黑。
16、如权利要求15所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所搀入的导电粒子的重量比为百分之五十。
17、如权利要求16所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中对该填充复合材料进行交联,是使用20Mrads以上的钴六十γ射线照射。
18、一种填充复合材料热敏元件的制造方法,包括下述步骤:设一搀有导电粒子的复合材料;而后对该搀有导电粒子的复合材料进行交联;再对该交联过的复合材料进行剪切式加工,使该复合材料中的导电粒子在一方向形成不连续相。
19、如权利要求18所述的填充复合材料热敏元件的制造方法,其中所述复合材料为高密度聚乙烯。
20、如权利要求18所述的填充复合材料热敏元件的制造方法,其中所述导电粒子为高导电炭黑。
21、如权利要求18所述的填充复合材料热敏元件的制造方法,其中所搀入的导电粒子的重量比为百分之五至百分之五十。
22、如权利要求18所述的填充复合材料热敏元件的制造方法,其中对该填充复合材料进行交联,是使用γ射线照射。
23、如权利要求18所述的填充复合材料热敏元件的制造方法,其中对所述填充复合材料进行交联,是使用10Mrads以上的γ射线照射。
24、如权利要求18所述的填充复合材料热敏元件的制造方法,其中所进行的简式剪切力加工,使所述填充复合材料的应变量达到百分之五至百分之三百之间。
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