[发明专利]高分子基热敏阻抗元件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 01109711.6 申请日: 2001-03-19
公开(公告)号: CN1375839A 公开(公告)日: 2002-10-23
发明(设计)人: 林建荣 申请(专利权)人: 宝电通科技股份有限公司
主分类号: H01C7/04 分类号: H01C7/04;H01C7/02
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 过晓东
地址: 中国*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 高分子 热敏 阻抗 元件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1、一种高分子基热敏电阻元件的制造方法,包括下述步骤:

提供一高分子基材;

对该高分子基材搀入导电粒子,使该搀有导电性粒子的高分子基材成为填充复合材料;

对该填充复合材料进行交联;

对该交联过的填充复合材料进行简式剪切力加工,使该填充复合材料的应变量大于百分之一。

2、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所述高分子基材为高密度聚乙烯。

3、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所述导电粒子为高导电炭黑。

4、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所搀入的导电粒子的重量比为百分之五至百分之五十。

5、如权利要求4所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所搀入的导电粒子的重量比为百分之十。

6、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中对该填充复合材料进行交联,是使用γ射线照射。

7、如权利要求6所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中对该填充复合材料进行交联,是使用10Mrads以上的γ射线照射。

8、如权利要求7所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中对该填充复合材料进行交联,是使用15Mrads以上的钴六十γ射线照射。

9、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所进行的简式剪切力加工,使该填充复合材料的应变量达到百分之五至百分之三百之间。

10、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所进行的简式剪切力加工,使该填充复合材料的应变量达到百分之一百。

11、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所述导电粒子为镀镍石墨粉。

12、如权利要求11所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所搀入的导电粒子的重量比为百分之六十五至百分之九十。

13、如权利要求12所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所搀入的导电粒子的重量比为百分之七十五。

14、如权利要求11所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所进行的简式剪切力加工,使所述填充复合材料的应变量达到百分之一至百分之三百之间。

15、如权利要求1所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所述导电粒子为导电炭黑。

16、如权利要求15所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中所搀入的导电粒子的重量比为百分之五十。

17、如权利要求16所述的高分子基热敏电阻元件的制造方法,其中对该填充复合材料进行交联,是使用20Mrads以上的钴六十γ射线照射。

18、一种填充复合材料热敏元件的制造方法,包括下述步骤:设一搀有导电粒子的复合材料;而后对该搀有导电粒子的复合材料进行交联;再对该交联过的复合材料进行剪切式加工,使该复合材料中的导电粒子在一方向形成不连续相。

19、如权利要求18所述的填充复合材料热敏元件的制造方法,其中所述复合材料为高密度聚乙烯。

20、如权利要求18所述的填充复合材料热敏元件的制造方法,其中所述导电粒子为高导电炭黑。

21、如权利要求18所述的填充复合材料热敏元件的制造方法,其中所搀入的导电粒子的重量比为百分之五至百分之五十。

22、如权利要求18所述的填充复合材料热敏元件的制造方法,其中对该填充复合材料进行交联,是使用γ射线照射。

23、如权利要求18所述的填充复合材料热敏元件的制造方法,其中对所述填充复合材料进行交联,是使用10Mrads以上的γ射线照射。

24、如权利要求18所述的填充复合材料热敏元件的制造方法,其中所进行的简式剪切力加工,使所述填充复合材料的应变量达到百分之五至百分之三百之间。

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