[发明专利]调整检测器判定电平改进检测性能的数据再现装置和方法无效
申请号: | 01101322.2 | 申请日: | 2001-01-10 |
公开(公告)号: | CN1363931A | 公开(公告)日: | 2002-08-14 |
发明(设计)人: | 沈载晟;朴贤洙 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B20/10 | 分类号: | G11B20/10;G11B20/18 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 马莹 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 调整 检测器 判定 电平 改进 检测 性能 数据 再现 装置 方法 | ||
本发明涉及数据的再现,更具体地说,涉及一种通过调整数据检测器中采用的判定电平来改进检测性能的数据再现装置和方法。
已开发出涉及部分响应最大似然性(PRML)的技术,以通过信号处理而不大大改变常规记录/再现装置的特性,来提高记录密度,并已提出基于该技术的许多具体的措施。
在图1中,示出了一个常规数据再现装置的方框图,模数转换器(ADC)100采样一个输入射频(RF)信号。直流(DC)偏移补偿器102和加法器104补偿RF采样数据中包含的直流偏移分量,补偿结果提供给均衡器106。电平误差检测器108检测均衡器106的输出与一个目标值之间的误差ek,均衡器106由基于常规的数字化视频光盘(DVD)或光盘(CD)的一个最小坑(或一个标志)-3T(T:一个位的空间)电平的无限脉冲响应(FIR)滤波器组成。
当电平误差检测器108检测到一个正(+)的误差值时,滤波器系数调整器110确定这个最小坑电平大于目标值并在负方向调整滤波器系数。调整后的滤波器系数Wk+1被送到均衡器106来减小该均衡器输出的最小坑电平。另一方面,当电平误差检测器108检测到一个负(-)的误差值时,滤波器系数调整器110确定这个最小坑电平小于目标值并在正方向调整滤波器系数。调整后的滤波器系数Wk+1被送到均衡器106来增大该均衡器输出的最小坑电平。
使用这种调整方法,输出具有适当电平的最小坑,从而改善了维特比检测器112的性能。在图1中,xk表示均衡器106的输入数据,yk表示均衡器106的输出数据,Wk+1表示均衡器106的调整后的系数。
同时,当来自采样输入RF信号的ADC 100的采样值Sk超过0时,直流偏移补偿器102就累加+1,当来自采样输入RF信号的ADC 100的采样值Sk小于0时,直流偏移补偿器102就累加-1。当该累加值等于或大于一个预定的+门限值时,直流偏移补偿器102就利用一个电平补偿值Lk补偿采样值Sk进而将采样值Sk减小一个电平(在n位采样时,减小1/2(n-1))。当该累加值小大于一个预定的-门限值时,直流偏移补偿器102就利用一个电平补偿值Lk补偿采样值Sk进而将采样值Sk增大一个电平。
通过这样的调整,DC偏移就可以从RF信号中消除了。但是,例如,如果在RF信号中出现不对称,尽管滤波器系数调整器110可以确定一个最优的FIR滤波器系数,在均衡器106的输出数据和维特比检测器112要求的判定电平之间仍会存在一个大的误差。在此,该判定电平指示了在维特比检测器112的转移量度运算单元中使用的预计采样值的大小。
因此,当由于不对称和盘歪斜失真使一个RF信号失真时,尽管使用最优的FIR滤波器系数来进行均衡,维特比检测器的检测性能仍是较低的。
为了解决上述问题,本发明的第一目的就是提供一种通过调整数据检测器中采用的判定电平来改进检测性能的数据再现装置。
本发明的第二目的是提供一种数据再现装置,用于监控均衡器输出,确定参考值,参考值即,例如,维特比检测器中使用的+和-最大电平,+和-中间电平以及零电平等的判定电平,并作为判定电平反馈确定值到维特比检测器。
本发明的第三目的是提供一种通过调整数据检测器中使用的判定电平来改进检测性能的数据再现方法。
本发明的第四目的是提供一种数据再现方法,用于监控均衡器输出,确定参考值,参考值即,例如,维特比检测器中的使用的+和-最大电平,+和-中间电平以及零电平等的判定电平,并作为判定电平反馈确定值到维特比检测器。
本发明的第五目的是提供一种用来改进光盘记录/再现装置的数据检测器的检测性能的数据再现装置。
因此,为了达到本发明上述的目的,提供了一种包括均衡器和数据检测器的数据再现装置,均衡器用来均衡输入数字信号,检测器用来从基于部分响应最大似然性的均衡器的输出检测数据。该数据再现装置包括一个电平判定单元,该电平判定单元用于从均衡器的输出检测与数据检测器中使用的判定电平对应的电平并将校正的判定电平反馈到数据检测器,校正的判定电平随该均衡器的输出电平而自适应变化。
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