[发明专利]测试等离子体显示板的短路和断路用的探头

说明书

技术领域

一般地说，本发明涉及探头装置，用于等离子体显示板(下称“PDP”)电极短路及断路的测试，具体地说，涉及一种探头装置，用于测试多个用作PDP扫描线的微小电极的短路和断路。

背景技术

如本领域技术人员所周知者，PDP包括多个电极，用于水平扫描和垂直扫描。相应地，每个水平扫描电极或垂直扫描电极的短路或断路都是造成像点缺陷的原因，因此应该测试PDP的水平电极和垂直电极，而且只应将无瑕疵的PDP进入到随后的过程。

如果不进行各种电极的短路和断路的精确测试，要找出有瑕疵的PDP，就要执行后续的费用较高的过程，从而招致重大的经济损失。

每个电极的宽度仅为80μm，而相邻电极间的间隔是150μm，因此，普通测试各微小电极的短路和断路所用的探头装置应该具有超高的精度，其中它的探头(将会与每个电极的两侧接触)定位误差应在±10μm之内。相应地，会招致所述探头装置过高的制作成本。于是，这种探头装置的价格很高，而且这种探头装置的维修费用也高，所以，存在的问题是PDP的制造成本大大地增加了。

另外，PDP的每个电极仅为80μm，因此，应该使普通探头的尖端尖锐化。相应地，在重复测量的过程中，容易使普通探头的尖端磨损，于是就存在要不断更换新探头的麻烦，以及过高的更换费用的经济负担。此外，电极本身也会受到探头的尖锐尖端的损害，致使PDP的瑕疵率提高。

发明内容

因此，在注意到现有技术中存在的上述问题的同时作出本发明。本发明的目的在于提供一种测试等离子体显示板各电极的短路和断路所用的探头，它无需要用超高精度制作的测试设备，也无需频繁地重新更换探头，同时也没有损害电极的危险。

为实现上述目的，本发明提供一种探头装置，用于测试PDP各电极的短路和断路，它采用滚动探头代替具有尖锐尖端的普通探头。

按照本发明，用微信息处理器计算与探头滚动接触的每个电极的一侧与电极另一侧之间的电阻值，并根据计算的值确定电极是否短路或断路。于是，可以得到极为精确的测试结果，省除与探头或电极的磨损和损坏有关的问题，而且由于无需超高精度的技术，可以维持本探头装置的制作成本。

附图说明

从以下参照附图的详细描述，将更清除地理解本发明的上述目的、特点和其它优点，其中：

图1是表示本发明探头总体装置的透视图；

图2是表示本发明探头总体结构及工作情况的纵剖面图；

图3是表示本发明探头尖端的示意图；

图4是说明本发明取样过程的曲线；

图5是表示就探头尖端的技术要求方面限制的示意图。

<附图基本部件的说明>

1：电机                    2：电极

3：探头                    4：尖端

5：轴承                    6：支承框架

7：耦接器                  8：开孔

9：滚动检测装置

具体实施方式

以下将参照附图详细描述本发明的探头装置。

如图1和2所示，本发明的探头装置包括与电极2接触的探头3，并由电机1使其滚动；探头3的一端形成尖端4；支承框架6用以支承探头3的中心部分和电机1，该支承部分6设有轴承，以使探头能够滚动；耦接器7用于使电机1与探头3连接在一起，该耦接器7的一侧设有开孔8；滚动检测装置9通过在开孔8的两侧发射及接收红外线，用以检测转数。

在本发明的探头装置中，首先，将电源加给电机1，使探头3滚动。相应地，可将支承框架6本身看作一个电极。

另外，如图2所示，探头3的尖端4斜着与电极2接触。于是，通过探头3的尖端4与电极2的点接触，与上下探头都与电极2接触的普通探头装置相比，在探头3的尖端4以滚动速度“a”在电极2上滚动的条件下，同时与电极2的滚动接触与电极2的移动速度同步，明显地减少了对电极2造成的损伤程度。再如图3所示，当探头3的尖端4在多个电极2的一侧上面滚动时，电流流过探头3、每个电极2的一侧和该电极2的另一侧。在这种情况下，由于通过探头3加给电极2的电压值保持恒定，所以根据电流的变化进行所述电阻值的计算。电流的这种变化通过模/数转换器转换成数字值，再从所述电阻值的变化由微信息处理机计算并判断这种数字值。如果所述电阻值的变化偏离所能允许变化的预定范围，则确定电极2是短路或断路。也就是说，通过比较电极2的一端和另一端处电阻值与预定范围的值之间的变化，可以确定电极2是否短路或断路。