[发明专利]屏蔽用铸造片、其热处理方法及屏蔽用材料

说明书

技术领域

本发明涉及蚀刻时的条纹斑点抑制效果优越的Ni-Fe系合金的屏蔽用铸造片，其热处理方法及屏蔽用材料，尤指较适用作彩色电视显像管或计算机显示器用显像管的屏蔽的Ni-Fe系合金的显像管屏蔽用铸造片、其热处理方法及屏蔽用材料。

背景技术

为人所知被使用作大型彩色电视用显像管或计算机显示器用的高精细显像管的屏蔽材料的殷钢(Invar)合金的NI-Fe合金(尤指Fe-36％Ni合金)，在将此合金蚀刻穿孔时有被称作「条纹斑点」的辊轧方向及平行方向上会出现条纹状花纹的缺点。此种条纹斑点发生原因被认为主要供蚀刻的材料板中存在的Ni及Fe的成分偏析。在将材料连续铸造或一般铸锭时的凝固偏析即使经过经予组合其后的热轧加工、冷轧加工、退火等步骤，此成分偏析亦残存于最终的制品板。凝固时的偏析在下一步骤成为于线圈的辊轧方向被拉伸的状态，结果在蚀刻制品板时于辊轧方向上明显形成平行的条纹状蚀刻斑点。

以往，为抑制此种蚀刻时条纹斑点的发生而采的若干技术被提出，例如于日本专利第2130577号(日本特公平7-78270号)公报，对已控制凝固组织的连续铸造片，报导有进行一定的温度、时间以上的热处理，抑制条纹斑点发生的方法。

另外，在日本专利第2000062号(日本特公平7-11034号)公报中报导有同样的对连续铸造片施以高温长时间退火的方法。

另外，在日本专利第1950743号(日本特公平6-68128号)公报中报导有无连续铸造、普通铸锭的区别下，由以满足一定的温度及时间关系的条件以上的高温长时间热处理铸造片以抑制条纹斑点发生的方法。

这些公知技术的基本原理是利用热扩散方式以将存在于由高温长时间热处理引起的铸造片内部的Ni、C、Si、Mn、Cr等成分偏析予以均质化并防止蚀刻斑点为重点。

在日本专利第2130577号公报虽曾提及凝固组织，但其意义在于凝固组织的结晶定向对制品板中的结晶定向的影响，与防止归因于其结晶定向的蚀刻斑点。

然而，在公知技术方面，虽然用彩色电视影像管或计算机显示器用显像管的屏蔽，以制造足够特性的制品板的退火是可能的，然而近年来尤其计算机显示器用显像管随着大型化、高度精细化进展、掩膜蚀刻条件变成较严苛。所以，用公知技术可达成的程度的降低偏析水准，欲抑制于掩膜蚀刻时发生的条纹斑点不足，人们期待能更加降低偏析现象。

本发明通过发现公知技术未曾考虑的铸造组织及凝固时成分偏析的关系、及配合该偏析状态的热处理条件，其目的在于提供一种能高度降低偏析技术，亦即降低条纹斑点技术。

发明内容

为实现上述目的，本发明提供一种屏蔽用铸造片，其特征在于为由含有30～45％Ni的Ni-Fe合金而成的屏蔽用铸造片，且该铸造片的铸造组织的99％以上为柱状晶及/或激冷细晶体。

另外，在上述的铸造片中，其特征在于所述铸造片为不含立方晶系。

另外，在上述的铸造片中，是以不进行电磁搅拌、且以保持铸造片内未凝固部的金属熔融温度在液相线以上，同时采用操作的连续铸造法而得的。

本发明的屏蔽用铸造片的热处理方法，其特征在于采用前述的铸造片，在K值设为150μm以上的温度及时间进行热处理。

另外，本发明的屏蔽用材料，其特征在于采用前述的铸造片，经过具有热轧、冷轧、退火等步骤所制造的。

附图说明

图1为表示使铸造片的浸渍条件变化时的K值的图。

图2为表示使铸造片的浸渍条件变化时的K值的图。

图3为表示使铸造片的浸渍条件变化时的K值的图。

图4为求取扩散距离K值的关系式。

图5为表示铸造片Ni偏析标准偏差及铸造片的浸渍条件间的关系图。

图6为表示铸造片Ni偏析标准偏差及条纹斑点品级间的关系图。

图7为表示K值与条纹斑点的关系图。

图8为表示测定本发明的铸造片与比较例的铸造片间的Ni偏析的结果的图。

图9为本发明铸造片的组织照相图。

图10为比较例铸造片的组织照相图。

具体实施方式

被使用作屏蔽原材料的Ni-Fe合金的「条纹斑点」缺陷，其主要原因被认为是在铸造片中存在的Ni的成分偏析所造成的，因此含有此Ni成分偏析的铸造片的组织最好以由柱状晶及或激冷细晶体而成。若采用以铸造片的组织的形态属非为柱状晶及/或激冷细晶体的铸造片为起始原料时，则其后即使进行热轧加工、冷轧加工、退火铸造片等的步骤，铸造片的Ni的成分偏析也不消除，并且即使加工成作为最终的屏蔽原材料的薄板亦会出现「条纹斑点」缺陷。