[发明专利]电子喷雾质谱分析的方法和装置无效
| 申请号: | 00805943.8 | 申请日: | 2000-03-28 |
| 公开(公告)号: | CN1346508A | 公开(公告)日: | 2002-04-24 |
| 发明(设计)人: | 山口健太郎 | 申请(专利权)人: | 科学技术振兴事业团 |
| 主分类号: | H01J49/10 | 分类号: | H01J49/10;H01J49/06;G01N27/62 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 付建军 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电子 喷雾 谱分析 方法 装置 | ||
1.一种实现电子喷雾质谱分析的方法,其特征在于包括
电离一个待分析的样本溶液,同时冷却用于汽化的气体和用于分离溶剂或离子源的腔室,由此对所述样本溶液进行质谱分析。
2.一种如权利要求1所述的实现电子喷雾质谱分析的方法,其中所述用于汽化的气体和所述离子源保持在从液氮温度到室温的低温范围内。
3.一种如权利要求1所述的实现电子喷雾质谱分析的方法,其中所述待分析的样本为一种有机化合物。
4.一种如权利要求1所述的实现电子喷雾质谱分析的方法,其中所述用于汽化的气体为喷雾气体或干性气体。
5.一种如权利要求4所述的实现电子喷雾质谱分析的方法,其中所述用于汽化的气体为惰性气体,如氮气。
6.一种如权利要求1所述的实现电子喷雾质谱分析的方法,其中用水或无极性有机溶液(如,H2O,CH3CN,CHCL3)作为溶剂,以执行分子结构分析。
7.一种用于执行电子喷雾质谱分析的装置,其特征在于包括
(a)离子源和一个用于分离冷却了的溶剂的腔室;
(b)一个与用于喷雾的喷管同轴设置的,并允许用于冷却的气体通过的保护套管;和
(c)一个质谱分析仪,用于利用所述溶剂进行电离及对要分析的样本执行质谱分析;
(d)其中采用通过电子喷雾形成的离子源,同时向一个用于分离溶剂的腔室或离子源直接喷射液氮来冷却所述离子源。
8.一种如权利要求7所述的用于执行电子喷雾质谱分析的装置,其中所述用于冷却的气体在一个用于冷却惰性气体的设备中进行处理后被导入所述保护套管。
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