[发明专利]检测光纤缺陷的方法有效

专利信息
申请号: 00803865.1 申请日: 2000-12-14
公开(公告)号: CN1340155A 公开(公告)日: 2002-03-13
发明(设计)人: 东藤慎平;仲恭宏;相川明 申请(专利权)人: 古河电气工业株式会社
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01N21/896
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 蹇炜
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 光纤 缺陷 方法
【权利要求书】:

1.一种用于检测光纤缺陷的缺陷检测方法,其中激光束从要测量光纤的轴的横向方向照射在所述光纤上,以检查透过所述光纤内部并且散射的前向散射光线的光强度分布,根据光强度分布模式检测所述要测量光纤的缺陷,其中:

所述光强度分布模式服从具有弱平滑度的平滑过程和具有强平滑度的平滑过程以分别形成第一和第二模式,和根据所述第一和第二模式之间的差形成判断模式,通过评价所述判断模式的幅度检测所述要测量光纤的缺陷。

2.一种用于检测光纤缺陷的缺陷检测方法,其中激光束从要测量光纤的轴的横向方向照射在所述光纤上,以检查透过所述光纤内部并且散射的前向散射光线的光强度分布,根据光强度分布模式检测所述要测量光纤的缺陷,其中:

所述光强度分布模式服从具有弱平滑度的平滑过程和具有强平滑度的平滑过程以分别形成第一和第二模式,和通过将所述第二模式除以所述第一模式形成判断模式,通过评价所述判断模式的幅度检测所述要测量光纤的缺陷。

3.按照权利要求1或2的光纤缺陷检测方法,其中,形成与所述第一和第二模式有关的改变阈值模式,通过比较所述改变阈值模式和所述判断模式评价所述判断模式的幅度。

4.按照权利要求1到2的任何一个的光纤缺陷检测方法,其中移动平均方法被用于平滑处理中。

5.一种用于检测光纤缺陷的缺陷检测方法,其中激光束从要测量光纤的轴的横向方向照射在所述光纤上,以检查透过所述光纤内部并且散射的前向散射光线的光强度分布,根据光强度分布模式检测所述要测量光纤的缺陷,其中:

所述光强度分布模式服从傅立叶变换以形成傅立叶变换模式,所述傅立叶变换模式通过利用双对数轴进行评价,具有对所述傅立叶变换模式高贡献率饿判断曲线被应用于所述傅立叶变换模式以查找所述傅立叶变换模式与判断曲线的偏差,和根据该偏差幅度检测所述要测量光纤的缺陷。

6.按照权利要求5的光纤缺陷检测方法,其中所述光强度分布模式服从具有弱平滑度的平滑过程和具有强平滑度的平滑过程以分别形成第一和第二模式,和在所述模式中设置所述第一和第二模式之间的差或通过将所述第二模式除以第一模式所获得的比值变成最大值的区域,通过对所述模式中所述区域部分地使用傅立叶变换检测所述要测量光纤的缺陷。

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