[实用新型]半导体吸收式光纤温度检测线性化实验装置无效
| 申请号： | 00227613.5 | 申请日： | 2000-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN2414407Y | 公开（公告）日： | 2001-01-10 |
| 发明（设计）人： | 田兴;侯丽新 | 申请（专利权）人： | 广东省化学工业学校 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 广东粤高专利事务所 | 代理人： | 林丽明 |
| 地址： | 510320*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体 吸收 光纤 温度 检测 线性化 实验 装置 | ||
1、一种半导体吸收式光纤温度检测线性化实验装置，其特征在于包括有光强控制电路(1)、可与光纤耦合的光源(2)、光纤传感器(3)、光电探测器(4)、信号接收及处理装置(5)，其中可与光纤耦合的光源(2)的输入端与光强控制电路(1)的输出端连接，光纤传感器(3)中的入射光纤与可与光源耦合的光源(2)的输出端连接，出射光纤与光电探测器(4)的输入端连接，光电探测器(4)的输出端与信号接收及处理装置(5)的输入端连接。
2、根据权利要求1所述的半导体吸收式光纤温度检测线性化实验装置，其特征在于上述光强控制电路(1)可为电流控制电路。
3、根据权利要求1所述的半导体吸收式光纤温度检测线性化实验装置，其特征在于上述可与光纤耦合的光源(2)可为发光二极管，也可为半导体激光器。
4、根据权利要求1所述的半导体吸收式光纤温度检测线性化实验装置，其特征在于上述光电流探测器(4)可为光电二极管或其它光电探测器。
5、根据权利要求1所述的半导体吸收式光纤温度检测线性化实验装置，其特征在于上述信号接收及处理装置(5)为电信号接收及处理装置。
6、根据权利要求1或2或3或4或5所述的半导体吸收式光纤温度检测线性化实验装置，其特征在于上述光强控制电路(1)包括有可变电阻R、电源W、电流表B，可与光纤耦合的光源(2)为发光二极管LED，光纤传感器(3 )包括有入射光纤F1、出射光纤F2、恒温水浴H、温度探头S，光电探测器(4)为光电二极管PD，信号接收及处理装置(5)包括有电阻R0及电位差计UJ，其中发光二极管LED的阳极及阴极分别与可变电阻R及电流表B的一端连接，可变电阻R及电流表B的另一端连接在电源W上，入射光纤F1及出射光纤F2的一端分别与温度探头S的两端连接，F1的另一端连接在发光二极管LED上，F2的另一端连接在光电二极管PD上，电阻R0并接在光电二极管PD的两端，电位差计UJ并接在电阻R0的两端。
7、根据权利要求6所述的半导体吸收式光纤温度检测线性化实验装置，其特征在于上述电源W为稳压电源。
8、根据权利要求6所述的半导体吸收式光纤温度检测线性化实验装置，其特征在于上述电流表B为毫安表。
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