[发明专利]磁共振成像方法和磁共振成像装置

说明书

本发明涉及一种MR(磁共振)成像方法和MRI(磁共振成像)装置，更具体地说，涉及一种能够降低由梯度脉冲产生的剩余磁化的MR成像方法和MRI装置。

在已有技术中，日本专利申请No.H10-75940所公开的技术如下：

(1)一种相移测量方法，包括如下步骤：执行包括发射激励RF脉冲、发射反向RF脉冲、在相位梯度轴上施加相位编码脉冲、在读出梯度轴上施加读出脉冲以及在相位梯度轴上施加反绕脉冲的预扫描程序，随后发射反向RF脉冲、在相位梯度轴上施加失相脉冲并在相位梯度轴上施加读脉冲的同时采集回波数据；基于通过对所采集的数据进行一维傅立叶变换得到的相位数据，测量在随后由相位编码脉冲等引起的残余磁化或涡流效应产生的回波中的相移，和

(2)一种应用快速自旋回波脉冲序列的MR成像方法，这种方法包含反复地执行如下步骤：多次改变相位编码脉冲；在发射激励RF脉冲之后，发射反向RF脉冲、在相位梯度轴上施加相位编码脉冲、在读梯度轴上施加读脉冲的同时采集回波数据，以及在相位梯度轴上施加反绕脉冲(rewinder pulse)，由此应用一个激励RF脉冲采集许多回波的数据，其中对通过如在(1)中所描述的相移测量方法所测量的相移量进行补偿的补偿脉冲并入到相位编码脉冲中或者附加在直接之前或直接之后或在相位编码脉冲直接之前和之后，或者并入在反绕脉冲中或附加在直接之前或直接之后或在反绕脉冲直接之前和直接之后。

上述技术必需要求通过(1)中所述的相移测量方法测量的相移量等于在加入补偿脉冲之前在(2)中的快速自旋回波脉冲序列中产生的相移量。

然而，由于存在磁调节极板或类似的部件的磁滞特性，在MRI装置中这些量并不总是相等，所以并不是总能够满足在上述技术中的前提条件。在下文将参考附图1和2解释这种情况。

附图1所示为依据常规的快速自旋回波(FSE)技术的脉冲序列图。

在FSE序列SQ中，首先施加激励RF脉冲R和片层选择脉冲ss。接着在读梯度轴上施加失相脉冲gxl，接着施加第一反向RF脉冲P1和片层选择脉冲ss。接着在相位梯度轴上施加相位编码脉冲gyli，然后，在施加读脉冲gxw的同时采集来自第一回波echol数据。此后，在相位梯度轴上施加具有与相位编码脉冲gyli相同面积但极性相反的反绕脉冲gylri。参考符号i表示在附图1中的FSE序列SQ的重复次数，并且i=1-I(例如1=128)。

接着，施加第二反向RF脉冲P2和片层选择脉冲ss，在相位梯度轴上施加相位编码脉冲gy2i，并在施加读脉冲gxw的同时采集第二回波echo2，然后在相位梯度轴上施加具有与相位编码脉冲gy2i相同面积但极性相反的反绕脉冲gy2ri。

此后，类似地，施加第j个反向RF脉冲Pj和片层选择脉冲ss，在相位梯度轴上施加相位编码脉冲gyji，并在施加读脉冲gxw的同时采集第第j回波echoj，然后在相位梯度轴上施加具有与相位编码脉冲gyji相同面积但极性相反的反绕脉冲gyjri，从j=3-J进行重复(例如虽然J=8，但是在附图1中所示为J=3的情况)。

最后，在相位梯度轴上施加大幅值的抑制脉冲。

附图2所示为铁磁材料比如在MRI装置中的磁调节极板的磁滞特性图。

当外部磁场强度H实质改变时铁磁材料比如在MRI装置中的磁调节极板的磁化强度B按照如主环Ma所示变化，而当外部磁场强度H的变化较小时它按照次环Mi所示变化。梯度脉冲与在外部磁场强度H中的较小变化相对应。因此，应用梯度脉冲能够使铁磁材料比如磁调节极板的磁性强度B按照次环Mi所示进行变化。

因此，MRI装置具有的剩余磁化取决于所施加的梯度脉冲的情况而变化，这是由于铁磁材料比如磁调节极板的磁滞特性引起的。

然而，由于如在(1)中所述的预扫描序列并没有注意到由于抑制脉冲kp引起的剩余磁化，通过(1)中所述的相移测量方法测量的相移量并不等于在加入补偿脉冲之前在(2)中的快速自旋回波脉冲序列中产生的相移量。这就是说，由在第(i-1)FSE序列SQ中的抑制脉冲引起的剩余磁化影响了在第i个FSE序列SQ中的所有的回波。

此外，(1)中的预扫描序列是一种直至第一回波的部分截断FSE序列的形式，所施加的预扫描的梯度脉冲的情况并不等于在第二回波之时和之后的MR成像扫描的情况。因此，剩余磁化影响了第二回波和随后的回波。

因此，如上所述的常规技术具有的问题是不能彻底地降低由于梯度脉冲引起的剩余磁化的影响。

因此，本发明的一个目的是提供一种能够彻底地降低由梯度脉冲引起的剩余磁化的影响的MR成像方法和MRI装置。