[发明专利]一种测试宽带码分多址系统的信号源及其方法无效
| 申请号: | 00114087.6 | 申请日: | 2000-03-01 |
| 公开(公告)号: | CN1306382A | 公开(公告)日: | 2001-08-01 |
| 发明(设计)人: | 田万廷;赵国峰;任震 | 申请(专利权)人: | 深圳市中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号: | H04Q7/34 | 分类号: | H04Q7/34 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 测试 宽带 码分多址 系统 信号源 及其 方法 | ||
本发明涉及一种用于测试宽带码分多址WCDMA(Wide Bandwidth CodeDivision Multiple Access)移动台基带接收模块的信号源及方法。具体地说,本发明及方法能产生激励信号,完成WCDMA移动台基带接收模块的功能及性能测试。
WCDMA移动台包含射频前端、基带接收模块、基带发送模块、译码单元及控制单元等模块。其中的基带接收模块完成小区搜索、信道搜索、信道跟踪及多径合并等功能。在研制WCDMA系统的过程中,需要提供期望的激励信号,加在WCDMA移动台基带接收模块上,根据WCDMA移动台基带接收模块处理的结果,来验证这部分电路的功能和性能;设备验证往往经过以下步骤:软件仿真、硬件仿真。软件仿真工具通过软件模型模拟实际系统,从算法的角度确定系统的功能及性能;硬件仿真则把算法用硬件来实现,由于基带信息包含各种信道组合、各种信噪比、各种移动速度、以及不同移动信道环境(室内、步行、车载移动),这样的激励信息很难在实际环境中建立,往往借助于软件仿真工具利用信道模型仿真才能得到,然后输出加载在基带接收模块上进行测试;在“AWG2021Arbitrary Waveform Generator 070-9097-00 User Manual,August 1994”中介绍的任意波形发生器,不能直接接收仿真软件模拟的WCDMA基带信息的数据,基带信息包含各种信道组合、各种信噪比、各种移动速度、以及不同移动信道环境,其复杂性使任意波形发生器无法编程产生这样的信号;又由于任意波形发生器激励波形深度不能满足WCDMA移动台基带接收模块系统测试的需求,测试WCDMA移动台基带接收模块时需要有一帧以上的信息,而任意波形发生器一般支持不够;又没有专门提供WCDMA移动台基带接收模块的测试仪器可供选择。
本发明提供一种低成本的、可配置的用于测试WCDMA移动台基带接收模块的信号源及方法,利用该装置能完成WCDMA移动台基带接收模块功能及性能的测试。
本发明提出的一种用于测试WCDMA移动台基带接收模块的信号源,它具有相同结构的I、Q两路信号通道,所述I路信号通道结构由下列单元连接:
只读存贮器ROM(Read Only Memory),用于写入仿真得到的各种数据;
随机存贮器RAM(Random Access Memory),用于系统高速工作时存储数据;
数模转换单元D/A(Digital to Analog),把RAM总线输出的数字信息转换成基带接收模块需要的模拟信号;
低通滤波器LPF(Low Pass Filter),滤除由于D/A转换产生的高频信号;
隔离变压器,它隔离本信号源装置与输出电缆的连接。
Q路通道的结构与I路通道相同。由第二只读存贮器、第二个随机存贮器、第二个数模转换单元、第二个低通滤波器、第二个隔离变压器依此连接。
状态机控制器,确定系统I、Q两路的工作状态,根据工作状态产生读写RAM及ROM的地址及读写控制信号;
晶体振荡器,通过状态机控制器,为系统提供所需要的工作时钟。
本发明还提出了一种用于测试WCDMA移动台基带接收模块的方法,包括I、Q两路,其特征在于,所述I路是按如下方式工作的:
(1)上电后,由状态机控制器15产生“复位状态”;
(2)状态机控制器15对各控制及状态信息进行初始化;
(3)状态机控制器15的状态从“复位状态”迁移至“数据从ROM搬到RAM状态”,产生控制信号把存放在只读存储器10的数据低速读出写入随机存储器11中;
(4)再由状态机控制器15的状态从“数据从ROM搬到RAM状态”迁移至“数据从RAM搬出状态”,产生30.72MHz的读信号把随机存储器11中的数据搬出,送入数模转换单元12中;
(5)数据经过低通滤波单元13,滤除高频信号,经隔离变压器14送同轴电缆,即完成I路输出。
所述Q路的工作方式与所述I路相同。
本发明提出的一种用于WCDMA移动台基带模块测试的信号源及方法,它有以下优点:
本发明仅由40平方厘米的PCB及普通器件组成,系统简约,成本低廉,而通常的高端任意波形发生器成本昂贵;
存储结构采用ROM和RAM两级结构,采用ROM可在掉电时保存数据信息,RAM可满足高速运行的需要;
写入ROM数据时,利用编程器可随意写入期望数据,能满足不同测试需求;
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