[发明专利]根据中子孔隙度测量结果导出钻孔直径

权利要求书

1.用来测定钻入物质内的钻孔直径的方法，此方法包括：

(a)于所述钻孔内设置探测器；

(b)测量此探测器的表示所述钻孔内流体的氢指数的响应；与

(c)将上述响应与所述物质的孔隙度测量结果相结合，以去求得此钻孔的直径。

2.权利要求1所述的方法，其中

(a)所述物质包括化学键合的氢；

(b)所述孔隙度测量是中子孔隙度测量。

3.权利要求1所述的方法，其中还包括通过由中子辐照所述流体和所述物质来感出上述响应的附加步骤。

4.权利要求3所述的方法，其中所述中子是由发射连续中子流的中子源提供。

5.权利要求3所述的方法，其中所述响应关系到碰撞所述探测器的热中子流。

6.权利要求1所述的方法，其中所述物质是地层。

7.权利要求4所述的方法，其中所述探测器和中子源是沿所述钻孔于钻柱或钢绳上输送。

8.用来测定钻入地层内的钻孔直径的方法，此方法包括：

(a)于所述钻孔内放置中子源并由中子辐照所述地层与此钻孔内的物质；

(b)于所述钻孔内放置第一探测器，此探测器沿轴向与所述中子源分开并响应此中子辐照；

(c)根据此第一探测器的响应，确定第一孔隙度测量结果；

(d)将此第一孔隙度测量结果与地层中子孔隙度测量结果相结合，以求出所述钻孔的直径。

9.权利要求8所述的方法，其中所述第一孔隙度测量结果是通过使所述第一探测器响应与已知钻孔中所述第一孔隙度测量结果和已知地层条件相关联而求得的参数化响应函数来确定的。

10.权利要求8所述的方法，其中还包括有另外的步骤：

(a)于所述钻孔内放置第二探测器，此探测器与所述中子源沿轴向分开的距离不同于所述第一探测器与其分开的距离，并响应此中子辐照；

(b)结合此第一探测器的响应和第二探测器的向应，以求出第二个地层孔隙度测量结果；

(c)相对环境条件校正此第二个地层孔隙度测量结果，以获得所述的地层中子孔隙度测量结果。

11.权利要求10所述的方法，其中所述第一探测器沿轴向与所述中子源的间距比所述第二探测器的近。

12.权利要求10所述的方法，其中所述中子源发射连续的中子流。

13.权利要求10所述的方法，其中所述第一和第二探测器响应碰撞于其上的热中子。

14.权利要求10所述的方法，其中还包括有另外的步骤：

(a)将所述中子源与第一和第二探测器置入钻键内；

(b)沿所述钻孔于钻柱上输送此钻链；

(c)沿所述钻孔作为所述钻链的深度的函数来测量此钻孔的直径。

15.权利要求10所述的方法，其中还包括有另外的步骤：

(a)将所述中子源与第一和第二探测器置入测井仪器内；

(b)沿所述钻孔于钢绳上输送此仪器；

(c)作为所述仪器在所述钻孔内深度的函数来测量此钻孔的直径。

16.用来测定钻入地层内的钻孔直径的系统，此系统包括：

(a)由中子辐照所述地层与所述钻孔内物质的中子源；

(b)与所述中子源沿轴向分开且响应所述中子辐照的第一探测器；

(c)包含此中子源与第一探测器的压力密封结构；以及

(d)计算装置，它用于

(i)根据所述第一探测器的响应测定第一孔隙度，

(ii)将上述第一孔隙度测量结果与地层中子孔隙度测量结果相结合，求出所述钻孔的直径。

17.权利要求16所述的系统，它还包括通过使所述第一探测器响应与已知钻孔中的所述第一孔隙度测量结果和已知地层条件相关联而获得的参数化响应函数，其中此响应函数是用来确定所述第一孔隙度测量结果的。