[发明专利]在标尺上具有长范围强度调制的绝对光学编码器有效
申请号: | 201110219907.3 | 申请日: | 2011-06-10 |
公开(公告)号: | CN102331270A | 公开(公告)日: | 2012-01-25 |
发明(设计)人: | M·M·米尔维科;D·J·卡普纳 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
主分类号: | G01D5/347 | 分类号: | G01D5/347 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 于小宁 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种编码器配置包括提供用于产生周期性信号的第一强度调制分量的双重调制标尺轨道图案、以及用于产生长范围绝对信号的第二强度调制分量。双重调制标尺轨道图案在不使用会增加编码器组件宽度的附加标尺轨道的情况下增大编码器的范围与分辨率之比。所述长范围信号可通过改变包括在标尺轨道中的图案元素的某些尺寸或通过将包括沿着轨道的光密度变化的层叠加到类似区域的图案元素上而被编码在双重调制标尺轨道图案中。在任一情况下,相关联的信号的净偏移和/或振幅水平都沿着标尺轨道被修改。这些修改后的净偏移和/或振幅水平提供用于长范围绝对信号的基础。 | ||
搜索关键词: | 标尺 具有 范围 强度 调制 绝对 光学 编码器 | ||
【主权项】:
一种绝对光学编码器,包括:标尺,该标尺包括沿测量轴方向延伸的至少第一双重调制标尺轨道图案;光源,被配置用来照亮标尺和第一双重调制标尺轨道图案;以及光电检测器装置,被配置为接收来自第一双重调制标尺轨道图案的光,其中:每个双重调制标尺轨道图案被配置为提供光电检测器装置从双重调制标尺轨道图案接收的光中的第一强度调制分量,第一双重调制标尺轨道图案的第一强度调制分量作为沿测量轴方向的位置的函数而变化,且沿着测量轴方向具有第一空间波长SW1;每个双重调制标尺轨道图案还被配置为提供光电检测器装置从该双重调制标尺轨道图案接收的光中的第二强度调制分量,且第二强度调制分量作为沿测量轴方向的位置的函数而变化;以及在每个双重调制标尺轨道图案中,第一强度调制分量沿着测量轴方向在绝对光学编码器的测量范围上重复多次,且第二强度调制分量沿着测量轴方向以比第一强度调制分量更慢的速率变化。
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