[发明专利]垂直定位的液晶板的单元间隙的测量方法和装置有效
| 申请号： | 99813471.6 | 申请日： | 1999-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN1136433C | 公开（公告）日： | 2004-01-28 |
| 发明（设计）人： | 铜田知广;村野健治;藏上浩一 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G02F1/13;G02F1/1337 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王以平 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种垂直定位的液晶板的单元间隙的测量方法和测量装置。光线以相对于VA(垂直定位的)液晶板的一个角度入射，该液晶板的表面垂直于液晶分子的光轴，因此人为产生只归因于液晶层的双折射。这就允许VA液晶的厚度(单元间隙)能被精确地测量。 | ||
| 搜索关键词： | 垂直 定位 液晶 单元 间隙 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种垂直定位的液晶板的单元间隙的测量方法，该垂直定位的液晶的光轴在垂直于液晶板表面的方向，该方法包含以下步骤：(1)从光源的光中抽出固定偏振成分；(2)把偏振成分的光引导到该垂直定位的液晶板上，使得光倾斜地入射到垂直定位的液晶板的光轴上；(3)测量穿过垂直定位的液晶板的光的特定偏振成分的透射强度；(4)在透射强度的基础上确定垂直定位的液晶板的双折射相位差R；以及(5)通过双折射相位差R和垂直定位的液晶的寻常折射率no和非寻常折射率ne数据，得到垂直定位的液晶的厚度。
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