[发明专利]掩模式只读存储器的程序化方法无效

专利信息
申请号: 99118196.4 申请日: 1999-08-30
公开(公告)号: CN1129079C 公开(公告)日: 2003-11-26
发明(设计)人: 汪炳颖;张瑞钦;杨俊仪;林春荣;王明宗 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: G06F17/00 分类号: G06F17/00;H01L21/027;H01L21/266
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄敏
地址: 台湾省新竹科*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种有较大制造窗口的掩模式只读式存储器的程序化方法,其特征在于将原本用于离子注入程序化方法的程序掩模A,利用逻辑运算的原理一分为两个图案极为平均的C掩模及D掩模,而后以此C掩模及D掩模的与来取代原来的A掩模,由于C掩模及D掩模的与等于原程序掩模A,因此程序化后所得的结果,仍然等同于单独于使用A掩模,而由于C掩模及D掩模本身图案的平均性,因此对于调整曝光时的参数而言,便能有较单独使用A掩模时更大的制造窗口,且增加制造上的成功率。
搜索关键词: 模式 只读存储器 程序化 方法
【主权项】:
1.一种增大制造窗口的方法,该方法包含如下步骤:(1)取一A掩模,具有岛形或洞形图形的掩膜;(2)将该A掩模的图形转为一程序码A;(3)设一转译码B,该转译码B为“0”,“1”交错的程序码;(4)将该程序码A与该转译码B,互取或,而得到一程序码C;(5)将该程序码A与该转译码B的反转码B′,互取或,而得到程序码D;(6)依该程序码C制作出一C掩模;(7)依该程序码D制作出一D掩模;(8)利用该C掩模和该D掩模的与,得到与单独使用该A掩模相同的晶片上的光刻胶层的曝光结果;由此,利用上述步骤,得以得到两组图案平均的该C掩模及该D掩模,以增大制造窗口。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于旺宏电子股份有限公司,未经旺宏电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/99118196.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top