[发明专利]检测发光元件位置的方法和设备

摘要

本发明公开了用于精确检测光发射元件的位置并且提高了操作简易性的方法和设备。将一维排列的PLZT光闸阵列的发光元件20照亮，光接收元件传送系统24驱动光接收元件22沿PLZT光闸阵列的成象表面的方向扫描，得到数据序列。将该数据序列的最小值作为阈值，从开始起将数据序列与上述阈值比较，检测到超过阈值的第一位置。在从第一位置起的一个周期的搜索范围内检测最大值，将最大值的位置作为发光元件20中的发光元件的起始位置。

主权项

1.使一维排列的多个发光元件发光，通过光接收装置测量上述发光元件发出的光功率，并根据上述光接收装置的测量结果，来检测具有多个上述发光元件的打印头的各个发光元件位置的位置检测方法，其特征在于包括：第一步，使所述多个发光元件中希望发光的发光元件发出光，第二步，利用上述光接收装置在所述发光元件排列方向上扫描来测量所述发光元件发出的光功率；第三步，在所述光接收装置的测量结果的基础上得到表明发光功率的数据序列；第四步，将所述数据序列与阈值进行比较，并检测从所述数据序列的开始起超过所述阈值的第一位置；第五步，将与所述第一位置最接近的最大值的位置作为所述已发光的发光元件中的发光元件开始位置；第六步，将最大值的位置作为在所述发光元件的开始位置后的发光元件位置。