[发明专利]半导体存储器件及其检验与使用方法

摘要

提供一种半导体存储器件、以及检验该半导体存储器件的一种方法和使用它的方法，它简化了操作的普通模式和操作测试模式之间的转换，缩短了用于错误检测和错误校正的测试时间。根据本发明的半导体存储器件包括：存储电路，代码标识单元(写数据寄存器和错误校正码发生电路)，错误处理单元(错误检测电路和错误校正电路)，和转换电路。

主权项

1.半导体存储器件，包括：存储单元，它包括m个存储区，其中m是任意的自然数，用于在由输入的地址信号指定的存储区写和读数据；代码标识单元，用于标识一代码，以检验输入的数据中的任何错误，并将作了代码标识的数据送到上述存储单元；转换单元，当上述存储信号指定上述存储单元中的存储区时，用于从上述存储单元输出数据；当上述地址信号未指定上述存储单元中的任何存储区时，从上述代码标识单元输出数据；和错误处理单元，当从上述转换单元接收数据时，用于根据标识到数据上的代码来检验上述数据包含的错误，当监测到任何错误时，校正错误并输出上述数据。