[发明专利]辐射检测装置和辐射检测方法无效
| 申请号: | 98126159.0 | 申请日: | 1998-11-27 |
| 公开(公告)号: | CN1133879C | 公开(公告)日: | 2004-01-07 |
| 发明(设计)人: | 板桥哲;远藤忠夫 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | G01T1/00 | 分类号: | G01T1/00 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王以平 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
| 摘要: | 一种辐射检测装置,该装置包括一个把辐射转换成可光电变换的光的波长转换器和若干个排列成矩阵状的象素,该象素由一个把光转换成电信号的传感元件和一个为了相继传送来自象素信号而连接到传感元件上的薄膜晶体管(TFT)组成,该检测装置还包括一个用于在辐射停止后,在至少延迟(n×τ1)后首先接通传送的多个TFT中首先待接通的那个TFT的装置,其中,τ1是波长转换器的特征时间常数,n为ln(SN),其中SN是所期望的信噪比,借此传送一个存储在其相应象素中的信号。 | ||
| 搜索关键词: | 辐射 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种辐射检测装置,该装置包括一个把辐射转换成可光电变换的光的闪烁器和若干个排列成矩阵状的象素,所述闪烁器具有余辉特性且该余辉特性是闪烁器的衰减特性,所述象素包括一个把光转换成电信号的传感元件和一个为了相继地传送来自象素信号而连接到传感元件上的用于传送的薄膜晶体管,该检测装置包括:一个用于在辐射停止后在至少延迟n×τ1后接通用于传送的多个薄膜晶体管中最先接通的那个薄膜晶体管的装置,其中,τ1是闪烁器的特征时间常数,n为ln(SN),其中SN是期望的信噪比,借此传送存储在其相应象素中的信号。
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