[发明专利]供不同厚度光盘使用的光学拾取系统无效

专利信息
申请号: 98125222.2 申请日: 1998-12-16
公开(公告)号: CN1220452A 公开(公告)日: 1999-06-23
发明(设计)人: 崔良吾 申请(专利权)人: 大宇电子株式会社
主分类号: G11B7/12 分类号: G11B7/12
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 韩宏
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种以可根据光盘的类型被电转换的第一和第二模式之一工作的光学拾取系统,包括光源,生成被第一线性偏振的分量的光;光学检测器;物镜;和配置在物镜和光源之间的具有一区域的光学装置。在该系统中,照射至光学装置的光在第一模式中由该区域所阻断而在第二模式中被部分地透射给物镜,透射的光通过物镜被聚焦在光盘上并反射至其以进入该区域,该区域将该反射光转换成第二光,进而通过该光学元件被衍射给该光学检测器。
搜索关键词: 不同 厚度 光盘 使用 光学 拾取 系统
【主权项】:
1、一种用于读取光盘上的信息信号的光学拾取系统,该系统包括:一光源,用于生成被第一线性偏振的分量的光;一检测器;一物镜;和一配置在物镜和光源之间且设置有第一和第二光学元件的光学装置,该第一光学元件将该光透射到第二光学元件且该第二光学元件具有以第一和第二模式之一工作的一区域,该两模式可根据光盘的类型被电转换,其中入射到第二光学元件的该区域的光在第一模式中被阻断而在第二模式中被部分地透射给物镜,透射的光通过物镜被聚焦在光盘上并反射至其以进入该区域,该区域将该反射光转换成具有第一和第二线性偏振分量的第一圆偏振光,该第一圆偏振光的第二线性偏振分量通过第一光学元件被衍射给检测器。
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