[发明专利]具有错误校验和校正电路的半导体存储器件无效
| 申请号： | 98124912.4 | 申请日： | 1998-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN1223444A | 公开（公告）日： | 1999-07-21 |
| 发明（设计）人： | 蛯原信幸;落合雅实 | 申请（专利权）人： | 日本电气株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 穆德骏 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种具有ECC电路的半导体存储器件,其用户区域和ECC区域中的存储单元的检验器－数据检测可以一次进行,ECC代码产生电路产生六位ECC代码,其每位具有32位数据组的15位的六个不同的组合的每个的XOR逻辑,位列的每个用户区域中的地址按照1,4,2,5,3,6,…,b,f的顺序排列。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 错误 校验 校正 电路 半导体 存储 器件 | ||
【主权项】：
1．一种半导体存储器件，其具有ECC(错误检验和校正)电路和包括用户区域和ECC区域的存储单元阵列，该ECC电路包括：一种ECC代码产生电路，用于产生从要写入用户区域中的数据组写入ECC区域中的ECC代码，该每位ECC代码的逻辑分别具有该数据组的某一奇数位的每个不同组合的XOR逻辑(异或运算)。
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