[发明专利]实时光谱测量的样品高温加热装置无效

专利信息
申请号: 98115334.8 申请日: 1998-06-18
公开(公告)号: CN1116602C 公开(公告)日: 2003-07-30
发明(设计)人: 唐鼎元;郑瑜;张雨东;王元康;兰安建 申请(专利权)人: 中国科学院福建物质结构研究所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/35
代理公司: 福州科扬专利事务所 代理人: 徐开翟,何小星
地址: 350002 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 实时光谱测量的样品高温加热装置主要有一个铂丝小圈做成的样品架和一套特制的开有三个通光孔的小型自动控温加热炉组成。其样品的加热温度可达400~1200℃,并且由于被测样品很薄(0.5mm以下)这样可采用透射和反射方法进行光谱测量。应用该装置可以通过调节和控制高温加热装置炉内温度达到研究在高温状态下材料的物化性质以及了解材料的液相结构以及在固、液相转变过程中结构变化的目的。
搜索关键词: 实时 光谱 测量 样品 高温 加热 装置
【主权项】:
1.一种实时光谱测量的样品高温加热装置,由外炉壳(1),内炉膛(2),加热元件(3),样品架(4),通光孔(5),控温热电偶(6),测温热电偶(7)和保温材料(8)组成,其特征在于该装置中还有一用铂丝的一端弯成小圈制成的样品架(4),样品架上的样品是将铂丝小圈浸入试样熔液后提起冷却制做的;该装置可在400~1200℃的高温环境中进行固、液态光谱测试。
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