[发明专利]具有分离栅极与源极注入的快闪存储器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 98115224.4 申请日: 1998-06-24
公开(公告)号: CN1110085C 公开(公告)日: 2003-05-28
发明(设计)人: 陈志民 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L21/82 分类号: H01L21/82;H01L21/8234;H01L27/115;H01L27/105
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种具有分离栅极与源极注入的快闪存储器及其制造方法,使用相同的多晶硅层来形成浮置栅与控制栅,在浮置栅下方具有一穿隧氧化层,控制栅下方具有一栅氧化层,且穿隧氧化层厚度较栅氧化层厚度薄。由于浮置栅与控制栅是以同一多晶硅层所限定,所以使得本发明中多晶硅层所产生的间隙壁,容易控制控制栅与浮置栅间的沟隙宽度,提供一具有可靠性与可重复制造的单元阵列。
搜索关键词: 具有 分离 栅极 注入 闪存 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种具有分离栅极与源极注入的快闪存储器的制造方法,包括:提供一硅衬底;形成一栅氧化层;形成一分离栅极掩膜,将部分栅氧化层去除,再去除该分离栅极掩膜;形成一穿隧氧化层;沉积一第一多晶硅层;去除部分该第一多晶硅层,以形成一控制栅与一浮置栅;沉积一第二多晶硅层;去除该第二多晶硅层,以在该控制栅与浮置栅两侧各形成一间隙壁,并在该浮置栅与控制栅之间形成一沟隙;于所述穿隧氧化层下方形成一源极区;以及于所述栅氧化层下方形成一漏极区;其中,所述分离栅极掩膜位于所述控制栅上方。
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