[发明专利]半导体器件无效
| 申请号： | 98109472.4 | 申请日： | 1998-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN1114950C | 公开（公告）日： | 2003-07-16 |
| 发明（设计）人： | 冈本祜治;船桥典生 | 申请（专利权）人： | 日本电气株式会社 |
| 主分类号： | H01L23/552 | 分类号： | H01L23/552;G11C16/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳,叶恺东 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种半导体器件包括第一和第二元件光屏蔽构件和比较器。第一和第二元件形成在相同基片上，在紫外线照射时改变电特性，和保持改变的状态。第一元件具有与第二元件相同的配置。光屏蔽构件形成在第一元件上以屏蔽紫外线。比较器比较第一和第二元件的电特性和根据比较结果输出异常检测信号。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，其特征在于，包括：第一和第二存储元件(11，21)，它们被形成在同一基片上，在紫外线的照射时改变电特性，和保持改变的状态，所述第一存储元件具有与所述第二存储元件的配置相同的配置；形成在所述第一存储元件上的光屏蔽构件(11a)以屏蔽紫外线；和比较装置(3，8，303)，用于比较所述的第一和第二存储元件的电特性并且根据比较结果输出异常检测信号。
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