[发明专利]利用可变大小冗余替换配置使存储器容错的方法有效
| 申请号： | 98106076.5 | 申请日： | 1998-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN1120422C | 公开（公告）日： | 2003-09-03 |
| 发明（设计）人： | 桐畑外志昭 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 付建军 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于通过采用可变大小冗余替换(VSRR)电路设置使存储器容错的方法。支持形成存储器的主阵列的一种冗余阵列包括多个可变大小冗余单元—其每一个都包括多个冗余元件。用于替换存储器中的故障的冗余单元独立地受到控制。一个修复单元中的所有冗余元件最好被同时替换。冗余单元中的冗余元件被解码地址线所控制。作为这种配置的特征的可变大小使得可以选择最有效的冗余单元，并具体地选择和要替换的成群故障的大小最吻合的一个单元。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 可变 大小 冗余 替换 配置 存储器 容错 方法 | ||
【主权项】：
1.给一种存储器器件提供一种可变冗余替换设置以使所述存储器容错的方法，所述方法包括以下步骤：提供多个主存储器阵列，这些主存储器阵列每一个都具有多个元件；把多个独立受控的可变大小冗余单元耦合到所述主存储器阵列，所述可变大小冗余单元每一个都具有多个冗余元件；提供一个与所述主存储器阵列相耦合的一个块冗余阵列；用至少一个所述可变大小冗余单元替换所述块冗余阵列中和所述主存储器阵列中的有缺陷元件，其中所述至少一个所述可变大小冗余单元中的所述冗余元件替换所述主存储器阵列中和所述块冗余阵列中相应数量的有缺陷元件。
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