[发明专利]凸点电极间无短路且与电路板分离的半导体器件及制造工艺无效

专利信息
申请号: 98100992.1 申请日: 1998-03-31
公开(公告)号: CN1110091C 公开(公告)日: 2003-05-28
发明(设计)人: 樋野滋一;池上五郎 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L21/60;H05K3/32
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 穆德骏,黄敏
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 通过扯断导电丝(15),在半导体片(10)上形成凸点电极(10e),以便暴露新鲜金属,通过暴露于离子束或原子束(18),清洁电路板(11)上的焊盘电极(11e’);在将凸点电极焊接于焊盘电极上时,将凸点电极加热到低于该金属熔点的某一温度,并压在焊盘电极上,由此防止凸点电极发生所不希望的短路。
搜索关键词: 电极 短路 电路板 分离 半导体器件 制造 工艺
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:半导体片(10),包括半导体衬底(10a)和由第一材料构成从半导体衬底主表面突起的凸点电极(10e);及电路板(11),包括绝缘基片(11a)、形成于所说绝缘基片上的导电图形(11b)、叠置于所说电图形的某区域上的焊盘电极,其特征在于,所说焊盘电极具有第二材料层(11c),其中中间层(10e)由形成于所说第一材料和第二材料间的合金构成,以便接合所说凸点电极与所说焊盘电极。
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