[发明专利]半导体光电器件有效
| 申请号: | 98100637.X | 申请日: | 1998-02-23 |
| 公开(公告)号: | CN1155110C | 公开(公告)日: | 2004-06-23 |
| 发明(设计)人: | 大泽胜市;老邑克彦 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | H01L31/10 | 分类号: | H01L31/10 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 黄永奎 |
| 地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明提供一种和以前相比,光检测灵敏度更高,光遥控接收装置的接收距离更长的光接收装置。在由N型杂质区域构成的受光部形成在其中的P型半导体衬底上,形成第1P型杂质区域来作为消除电磁噪声的屏蔽部。该屏蔽部呈网格状覆盖受光部的一部分表面,以防止因它和受光部相互接触而引起的自发噪声过大。并且,形成比受光部深的第2P型杂质区域来包围第1P型杂质区域,以便消除来自半导体衬底侧面的电磁噪声。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 光电 器件 | ||
【主权项】:
1、一种半导体光电器件,包括第1导电型半导体衬底和在该半导体衬底的表面区域上形成的由第2导电型杂质区域构成的受光部,其特征在于:在上述受光部的表面区域上形成了一个由上述第1导电型杂质区域构成且用于消除电磁噪声的屏蔽部;上述屏蔽部只覆盖上述受光部表面的一部分,以免它和上述受光部的相互接触引起过大的自发噪声,上述屏蔽部占受光部表面的面积与受光部表面的面积比为0.25~0.95。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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