[实用新型]一种半导体激光器测量装置无效
| 申请号: | 97215584.8 | 申请日: | 1997-05-06 |
| 公开(公告)号: | CN2300925Y | 公开(公告)日: | 1998-12-16 |
| 发明(设计)人: | 李丽娜 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春物理研究所 |
| 主分类号: | G02B27/30 | 分类号: | G02B27/30 |
| 代理公司: | 中国科学院长春专利事务所 | 代理人: | 周长兴 |
| 地址: | 130021*** | 国省代码: | 吉林;22 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本设计提供了一种较灵活并方便的半导体激光器测量装置,在测量装置中采用了微透镜光纤的结构,使用该装置只需调整注入光纤一端就可调整好注入光束的入射角,不必再调整激光器。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 半导体激光器 测量 装置 | ||
【主权项】:
1、一种半导体激光器测量装置,包括单模激光器、量子阱大功率激光器、单色仪和双透镜系统,其特征是在单模激光器与量子阱大功率激光器之间,双透镜系统与单色仪之间采用微透镜光纤。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春物理研究所,未经中国科学院长春物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/97215584.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。





