[实用新型]一种半导体激光器测量装置无效

专利信息
申请号: 97215584.8 申请日: 1997-05-06
公开(公告)号: CN2300925Y 公开(公告)日: 1998-12-16
发明(设计)人: 李丽娜 申请(专利权)人: 中国科学院长春物理研究所
主分类号: G02B27/30 分类号: G02B27/30
代理公司: 中国科学院长春专利事务所 代理人: 周长兴
地址: 130021*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 本设计提供了一种较灵活并方便的半导体激光器测量装置,在测量装置中采用了微透镜光纤的结构,使用该装置只需调整注入光纤一端就可调整好注入光束的入射角,不必再调整激光器。
搜索关键词: 一种 半导体激光器 测量 装置
【主权项】:
1、一种半导体激光器测量装置,包括单模激光器、量子阱大功率激光器、单色仪和双透镜系统,其特征是在单模激光器与量子阱大功率激光器之间,双透镜系统与单色仪之间采用微透镜光纤。
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