[发明专利]叠层式光盘制造方法及其装置无效
申请号: | 97193897.0 | 申请日: | 1997-04-18 |
公开(公告)号: | CN1160717C | 公开(公告)日: | 2004-08-04 |
发明(设计)人: | 宫本寿树;井上清;佐藤博一;小园利一 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B7/26 | 分类号: | G11B7/26 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种叠层式光盘制造方法及其装置是在第一基片(6)与第二基片(9)间形成粘接层(AS),粘接第一基片(6)及第二基片(9)制造光盘(OD)时,根据所制造的光盘粘接层厚度(ΔD),通过控制以温度(T)为代表的诸条件,使胶粘剂(PP)的粘度(v)适合各工序进行变化。因此,能稳定制作高质量的光盘,并能提高制造装置的运转效率。在叠层式光盘(OD)中,可以稳定制造在粘接层(AS)无气泡混入的光盘。 | ||
搜索关键词: | 叠层式 光盘 制造 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
1.一种叠层式光盘制造装置,是至少粘接第一基片(6)和第二基片(9)制造光盘(OD)的叠层式光盘制造装置(ODB),该叠层式光盘制造装置具有:胶粘剂涂敷装置(100,300),该胶粘剂涂敷装置(100,300)用于在预先确定的条件下将胶粘剂涂敷在第一基片上;叠合装置(400),该叠合装置(400)用于将第二基片叠合在涂敷在第一基片上的胶粘剂上,使得在第一基片和第二基片之间形成粘接层;其特征在于:该叠层式光盘制造装置具有:测定装置(800),该测定装置(800)是层厚度测定装置,该测定装置(800)用于测定在第一基片和第二基片之间的粘接层的实际厚度;层厚度差检测装置(900),该层厚度差检测装置(900)求出所测定的粘接层厚度(Da)与目标粘接层厚度(D)之间的层厚度差(ΔD);控制装置(3000),该控制装置(3000)根据该层厚度差(ΔD),至少控制该粘接涂敷装置。
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